Выпуски

 / 

2002

 / 

Декабрь

  

Обзоры актуальных проблем


Поляритоны полупроводниковой микрополости


Институт спектроскопии РАН, ул. Физическая 5, Троицк, Москва, 108840, Российская Федерация

Экспериментально методами инфракрасной спектроскопии, комбинационного рассеяния света и фемтосекундной спектроскопии и теоретически в рамках линейной кристаллооптики исследованы оптические свойства пленок широкозонных полупроводников на металлических подложках. Показано, что в планарных структурах (микрорезонаторах) оптические спектры содержат информацию об электромагнитных возбуждениях как объема, так и поверхности структуры. Оптические спектры определяются взаимодействием всех дипольно-активных возбуждений материалов структуры с электромагнитными модами микрорезонатора, которые в свою очередь определяются диэлектрической проницаемостью каждого вещества структуры, толщиной микрополости (микрорезонатора) и условиями экспериментального исследования.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
PACS: 71.36.+c, 78.20.Bh, 78.40.−q, 78.66.−w (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0172.200212b.1371
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2002/12/b/
Цитата: Виноградов Е А "Поляритоны полупроводниковой микрополости" УФН 172 1371–1410 (2002)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Vinogradov E A “Semiconductor microcavity polaritonsPhys. Usp. 45 1213–1250 (2002); DOI: 10.1070/PU2002v045n12ABEH001189

© Успехи физических наук, 1918–2019
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение