Наличие метода, обеспечивающего возможность контролируемого создания объемного «рисунка», состоящего из областей с требуемыми физическими и химическими свойствами, является ключевым условием для радикального прогресса в технологиях XXI века. Это особенно актуально, если метод позволяет обеспечить создание таких областей с размерами вплоть до нанометровых. В нашей работе впервые предлагается способ целенаправленной прямой трансформации наиболее важных физических свойств материалов, таких как электрические, магнитные, оптические и др., за счет радикального изменения атомного состава твердых тел. Физические основы новой технологии связаны с открытым нами эффектом селективного удаления атомов из тонких пленок двух- или многоатомных соединений пучками ускоренных частиц. Возможности этого метода исследованы и подтверждены нашими многочисленными экспериментами. В частности, показано, что селективное удаление атомов определенного сорта позволяет целенаправленно переводить диэлектрики в металлы или полупроводники, немагнитные материалы — в магнитные, а также радикально изменять оптические характеристики материалов и ряд других свойств. Возможность селективного удаления атомов определенного сорта из вещества представляет большой интерес для технологий будущего, в первую очередь, связанных с потребностями как наноэлектроники, так и с множеством «нанопроблем» третьего тысячелетия.
PT Journal Article
TI Controlled ion-beam transformation of electrical, magnetic, and optical materials properties
AU Gurovich B A
FAU Gurovich BA
AU Dolgii D I
FAU Dolgii DI
AU Kuleshova E A
FAU Kuleshova EA
AU Velikhov E P
FAU Velikhov EP
AU Ol’shanskii E D
FAU Ol’shanskii ED
AU Domantovskii A G
FAU Domantovskii AG
AU Aronzon B A
FAU Aronzon BA
AU Meilikhov E Z
FAU Meilikhov EZ
DP 10 Jan, 2001
TA Usp. Fiz. Nauk
VI 171
IP 1
PG 105-117
RX 10.3367/UFNr.0171.200101d.0105
URL https://ufn.ru/ru/articles/2001/1/d/
SO Usp. Fiz. Nauk 2001 Jan 10;171(1):105-117