Наличие метода, обеспечивающего возможность контролируемого создания объемного «рисунка», состоящего из областей с требуемыми физическими и химическими свойствами, является ключевым условием для радикального прогресса в технологиях XXI века. Это особенно актуально, если метод позволяет обеспечить создание таких областей с размерами вплоть до нанометровых. В нашей работе впервые предлагается способ целенаправленной прямой трансформации наиболее важных физических свойств материалов, таких как электрические, магнитные, оптические и др., за счет радикального изменения атомного состава твердых тел. Физические основы новой технологии связаны с открытым нами эффектом селективного удаления атомов из тонких пленок двух- или многоатомных соединений пучками ускоренных частиц. Возможности этого метода исследованы и подтверждены нашими многочисленными экспериментами. В частности, показано, что селективное удаление атомов определенного сорта позволяет целенаправленно переводить диэлектрики в металлы или полупроводники, немагнитные материалы — в магнитные, а также радикально изменять оптические характеристики материалов и ряд других свойств. Возможность селективного удаления атомов определенного сорта из вещества представляет большой интерес для технологий будущего, в первую очередь, связанных с потребностями как наноэлектроники, так и с множеством «нанопроблем» третьего тысячелетия.
@article{Gurovich:2001,author = {B. A. Gurovich and D. I. Dolgii and E. A. Kuleshova and E. P. Velikhov and E. D. Ol’shanskii and A. G. Domantovskii and B. A. Aronzon and E. Z. Meilikhov},title = {Controlled ion-beam transformation of electrical, magnetic, and optical materials properties},publisher = {Uspekhi Fizicheskikh Nauk},year = {2001},journal = {Usp. Fiz. Nauk},volume = {171},number = {1},pages = {105-117},url = {https://ufn.ru/ru/articles/2001/1/d/},doi = {10.3367/UFNr.0171.200101d.0105}}