Выпуски

 / 

1987

 / 

Май

  

Обзоры актуальных проблем


Электронная микроскопия атомного разрешения

Современные просвечивающие электронные микроскопы имеют разрешение до 1,5-2 A что позволяет непосредственно наблюдать атомы. Изложена теория формирования электронно-микроскопического изображения атомного разрешения, влияние аберраций, свойства передаточной функции, методы обработки, расчета и интерпретации изображений. Рассмотрена связь электронной микроскопии и электронной дифракции. Приведены примеры электронно-микроскопических исследований атомной структуры различных объектов — молекул, кристаллов, различных органических и неорганических соединений, в том числе минералов, полупроводников, исследований дефектов кристаллической структуры и ее формирования при образовании кристаллов. Ил. 50. Библиогр. ссылок 113 (115 назв.)

Текст pdf (3 Мб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1987v030n05ABEH002898
PACS: 07.78.+s, 68.37.Lp, 61.66.−f (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0152.198705c.0075
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1987/5/c/
Цитата: Вайнштейн Б К "Электронная микроскопия атомного разрешения" УФН 152 75–122 (1987)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Vainshtein B K “Electron microscopy at atomic resolutionSov. Phys. Usp. 30 393–419 (1987); DOI: 10.1070/PU1987v030n05ABEH002898

Список литературы (112) ↓ Статьи, ссылающиеся на эту (14) Похожие статьи (20)

  1. M. Knoll and E. Ruska Ann. Phys. (Leipzig) 12 607, 641 (1932)
  2. E. Ruska The Early Development of Electron Lenses and Electron Microscopy (S. Hirzel Verlag, Stuttgart, 1980)
  3. J. W. Menter Proc. R. Soc. London Ser. A 236 119 (1956)
  4. H. Hashimoto, A. Kumao, K. Hino, H. Yotsumoto, and A. Ono Jpn. J. Appl. Phys. 10 1115 (1971)
  5. J. M. Cowley and S. Iijima The Electron Microscope in Mineralogy (Springer-Verlag, Berlin, 1976)
  6. O. Scherzer J. Appl. Phys. 20 20 (1949)
  7. C. B. Eisenhander and B. M. Siegel J. Appl. Phys. 37 1613 (1966)
  8. W. Hoppe Chem. Scripta 14 227 (1979), 1978
  9. J. M. Cowley Ann. Rev. Mat. Sci. 6 53 (1976)
  10. J. M. Cowley Ultramicrosc. 8 1 (1982)
  11. J. M. Cowley Diffraction Physics (North-Holland, Amsterdam, 1975)
  12. K.-J. Hanszen Z. angew. Phys. 27 125 (1969)
  13. A. A. Vyazigin Izv. Akad. Nauk. SSSR Ser. Fiz. 36 1917 (1972)
  14. F. Thon 8th Intern. Congress of Electron Microscopy, Canberra 1 238 (1974)
  15. E. J. Kirkland, B. M. Siegel, N. Uyeda, and Y. Fujiyoshi Ultramicrosc. 5 479 (1980)
  16. E. J. Kirkland, B. M. Siegel, N. Uyeda, and Y. Fujiyoshi Ultramicrosc. 17 87 (1985)
  17. B. K. Va&ibreve;nshte&ibreve;n Structural Electron Diffraction (in Russian) (Izd-vo AN SSSR, M., 1956)
  18. W. K. Pratt Digital Image Processing (Mir, M, 1982)
  19. R. O. Duda and P. E. Hart Pattern Classification and Scene Analysis (Mir, M, 1976)
  20. P. W. Hawkes, ed. Computer Processing of Electron Microscope Images (Springer-Verlag, Berlin, 1980)
  21. G. Thomas and M. J. Goringe Transmission Electron Microscopy of Materials (Nauka, M, 1983)
  22. J. C. H. Spence Experimental High-Resolution Electron Microscopy (Experimental High-Resolution Electron Microscopy Press, Oxford, 1981)
  23. G. S. Gritsaenko, B. B. Zvyagin, R. V. Boyarskaya et al Methods of Electron Microscopy of Minerals (in Russian) (Nauka, M., 1969)
  24. Advances in Optical and Electron Microscopy Vol. 7 (Academic Press, London, 1978)
  25. I. G. Stoyanova and I. F. Anaskin Foundations of the Methods of Transmission Electron Microscopy (in Russian) (Nauka, M., 1972)
  26. V. A. Drits Structural Study of Minerals by Methods of Microdiffraction and High-Resolution Electron Microscopy (in Russian) (Nauka, M., 1972)
  27. P. B. Hirsch, A. Howie, R. B. Nicholson, D. W. Pashley, and M. J. Whelan Electron Microscopy of the Thin Crystals (Mir, M, 1968)
  28. H.-R. Wenk, ed Electron Microscopy in Mineralogy (Mir, M, 1979)
  29. M. Born Z. Phys. 37 863 (1926); M. Born Z. Phys. 38 803 (1926)
  30. H. A. Bethe Ann. Phys. (Leipzig) 87 55 (1928)
  31. M. Blackman Proc. R. Soc. London Ser. A 173 68 (1939)
  32. Z. G. Pinsker Electron Diffraction (in Russian) (Izd-vo AN SSSR, M.-L., 1949)
  33. M. Born and E. Wolf Principles of Optics (Nauka, M, 1973)
  34. S. Horinchi Chem. Scripta 14 75 (1979), 1978
  35. J. M. Cowley and A. F. Moodie Proc. R. Soc. London Ser. A 76 3378 (1960)
  36. G. R. Grinton and J. M. Cowley Optik 34 221 (1971)
  37. M. V. Berry and K. E. Mount Rep. Prog. Phys. 35 315 (1972)
  38. P. A. Doyle Acta Crystallogr. Sect. A 26 569 (1969)
  39. A. A. Vyazigin and Yu. B. Vorob'ev Izv. Akad. Nauk SSSR, Ser. Fiz. 27 1122 (1963)
  40. H. Hashimoto, E. Endoh, Y. Takai, H. Tomioka, and Y. Yokota Chem. Scripta 14 23 (1979)
  41. W. Hoppe Philos. Trans. R. Soc. London Ser. B 261 71 (1971)
  42. H. Hashimoto, Y. Yokota, Y. Takai, H. Endoh, and A. Kumao Chem. Scripta 14 125 (1979), 1978
  43. A. A. Danishevski&ibreve; and F. N. Chukovski&ibreve; Kristallografiya 27 668 (1982)
  44. K. J. Hanszen Microscopie Electronique (Grenoble, 1970); ed. P. Favard Société Française de Microscopie Électronique, Paris 1 45 (1970)
  45. J. G. Allpress, E. A. Hewat, A. F. Moodie, and J. V. Sanders Acta Crystallogr. Sect. A 28 528 (1972)
  46. B. Jouffrey, D. Dorignac, and M. Tanaka Chem. Scripta 14 63 (1979), 1978
  47. J. M. Cowley Acta Crystallogr. Sect. A 29 529 (1973)
  48. A. V. Crewe J. Electron Microsc. 28 S-9 (1979)
  49. A. V. Crewe Chem. Scripta 14 17 (1979), 1978
  50. A. V. Crewe, J. P. Langmore, and M. S. Isaacson Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis (Wiley, New York, 1975) p. 47
  51. J. M. Cowley, M. A. Osman, and P. Humble Ultramicrosc. 15 311 (1984)
  52. R. W. Carpenter and J. C. H. Spence J. Microsc. 136 165 (1984)
  53. B. K. Va&ibreve;nshtem Tr. IK AN SSSR, No. 11 (1955) p. 78
  54. B. K. Va&ibreve;nshte&ibreve;n and V. F. Dvoryankin Kristallografiya 1 626 (1956)
  55. R. Glauber and V. Schomaker Phys. Rev. 89 667 (1953)
  56. B. K. Va&ibreve;nshte&ibreve;n Veröffentlichungen zur 10. Tagung "Elektronenmikroskopie," Leipzig 1 11 (1981)
  57. Z. G. Pinsker X-Ray Crystal Optics (in Russian) (Nauka, M., 1982)
  58. R. D. Heidenreich Fundamentals of Transmission Electron Microscopy (Mir, M, 1966)
  59. K. Jujiwara J. Phys. Soc. Jpn. 14 1513 (1959)
  60. F. Fujimoto and A. Howie Philos. Mag. 13 1131 (1966)
  61. P. Goodman and A. F. Moodie Acta Crystallogr. Sect. A 30 280 (1974)
  62. H. Niehrs Z. Naturforsch. 149 504 (1959)
  63. L. Sturkey Proc. Phys. Soc. London 80 321 (1962)
  64. L. T. Chadderton in: Channeling: Theory, Observation and Application ed. D. V. Morgan (Wiley, London, 1973)
  65. H. Hashimoto, A. Howie, and M. J. Whelan Proc. R. Soc. London Ser. A 269 80 (1962)
  66. N. Kato J. Phys. Soc. Jpn. 7 397 (1952)
  67. K. Kambe Ultramicrosc. 10 223 (1982)
  68. H. Hashimoto, M. Mannami, and T. Naiki Philos. Trans. R. Soc. London 253 459 (1961); H. Hashimoto, M. Mannami, and T. Naiki Philos. Trans. R. Soc. London 253 490 (1961)
  69. C. G. Darwin Philos. Mag. 27 315 (1914); C. G. Darwin Philos. Mag. 27 675 (1914)
  70. J. M. Cowley and A. F. Moodie Acta Crystallogr. 10 609 (1957)
  71. H. P. Erickson and A. Klug Philos. Trans. R. Soc. London Ser. B 261 105 (1971)
  72. V. P. Kosykh, A.I. Puskovskikh, V. S. Kirichuk, T. Kyune, E. V. Orlova, V. P. Tsuprun, and N. A. Kiselev Kristallografiya 28 1082 (1983)
  73. B. K. Va&ibreve;nshte&ibreve;n Usp. Fiz. Nauk 109 455 (1973)
  74. N. A. Kiselev Modern Electron Microscopy in the Study of Matter (in Russian) (Nauka, M., 1982) p. 167
  75. M. B. Sherman, E. V. Orlova, S. S. Terzyan, R. Kleine, and N. A. Kiselev Ultramicrosc. 7 131 (1981)
  76. R. A. Crowther and L. A. Amos J. Mol. Biol. 60 123 (1971)
  77. J. Frank see Ref. 20 187
  78. M. Skeinkilberg and H. J. Schramm Z. Physiol. Chem. 361 1363 (1980)
  79. M. Van Hill Ultramicrosc. 13 165 (1984)
  80. N. Uyeda, T. Kobayashi, K. Ishizuka, and Y. Fujiyoshi Chem. Scripta 14 17 (1979), 1978
  81. A. Klug and D. J. de Rosier Nature 212 29 (1966)
  82. P. L. Fejes, S. Iijima, and J. M. Cowley Acta Crystallogr. Sect. A 29 710 (1973)
  83. A. L. Vasiliev, O. V. Uvarov, M. A. Gribeluk, N. A. Kiselev et al Proc. 11th Internat. Congr. of Electron Microscopy, Kyoto, Japan, Aug. 31-Sep. 7 1391 (1986)
  84. M. Beer, J. W. Wiggins, D. Tunkel, and C. K. Stoechert Chem. Scripta 14 263 (1979), 1978
  85. E. J. Kirkland Ultramicrosc. 15 151 (1984)
  86. B. K. Va&ibreve;nshte&ibreve;n Modern Crystallography, Vol. 1 (in Russian) (Nauka, M., 1979)
  87. Yu. Z. Nozik, R. P. Ozerov, and K. Khennig Structural Neutron Diffraction, Vol. 1 (in Russian) (Atomizdat, M., 1979)
  88. M. F. C. Ladd and R. A. Palmer, eds Theory and Practice of Direct Methods in Crystallography (Mir, M, 1983)
  89. P. N. T. Unwin and R. Henderson J. Mol. Biol. 94 425 (1975)
  90. F. R. Ottensmeyer, D. P. Bazett-Jones, R. M. Henkelman, A. P. Korn, and R. F. Whiting Chem. Scripta 14 257 (1979), 1978
  91. K. Izui, S. Furuno, T. Nishida, and H. Otsu Chem. Scripta p. 99
  92. H. Hashimoto Ultramicrosc. 18 19 (1985)
  93. S. Hovmöller, A. Sjögren, G. Farrants, M. Sundberg, and B. O. Marinder Nature 311 238 (1984)
  94. N. D. Zakharov, M. A. Gribeluk, B. K. Va&ibreve;nshte&ibreve;n, O. N. Rozanova, K. Uchida, and S. Horinchi Acta Crystallogr. Sect. B 39 575 (1983)
  95. L. M. Kovba, O. N. Rozanova, and V. K. Trunov Radiokhimiya 19 260 (1977)
  96. N. Uyeda, Y. Fujiyoshi, and K. Ishizuka Ultramicrosc. 15 139 (1984)
  97. R. Sinclair, F. A. Ponce, T. Yamashita, D. J. Smith, R. A. Camps, L. A. Freeman, S. J. Erasmus, W. C. Nixon, K. C. A. Smith, and C. J. D. Catto Nature 298 127 (1982)
  98. J. S. Anderson Chem. Scripta 14 129 (1979), 1978
  99. R. J. D. Tilley Chem. Scripta p. 147
  100. V. A. Drits, N. D. Zakharov, and I. P. Khadzhi Izv. Akad. Nauk SSSR Ser. Geol., No. 11 (1979) p. 82
  101. N. D. Zakharov, I. P. Khadzhi, and V. N. Rozhanski&ibreve; Dokl. Akad. Nauk SSSR 249 359 (1979)
  102. K. L. Merkle, J. F. Reddy, and C. L. Wiley Ultramicrosc. 18 281 (1985)
  103. J. L. Hutchinson Ultramicrosc. p. 349
  104. S. Amelinckx Chem. Scripta 14 197 (1979), 1978
  105. A. L. Vasil'ev, A. L. Golovin, K. M. Manafov, R. M. Imamov, and N. A. Kiselev Poverkhnost' (1987) p. 123
  106. M. P. A. Vieqers, A. F. De Yong, and M. R. Leys Spectrochem. Acta Ser. B 40 835 (1985)
  107. D. Y. Smith and L. D. Marks Ultramicrosc. 16 101 (1985)
  108. L. D. Marks Ultramicrosc. 18 445 (1985)
  109. C. E. Warble Ultramicrosc. 15 301 (1984)
  110. J. O. Bovin, R. Wallenberg, and D. J. Smith Nature 317 47 (1985)
  111. Electron Microscopy (1986); Proc. 11th Internat. Congress on Electron Microscopy, Kyoto, Aug. 31-Sep. 7 (1986); Electron Microscopy 1 2; Suppl. to J. Electron Microsc. 35 (1986)
  112. D. S. Shechtman, L. Blech, D. Gratias, and J. W. Cahn Phys. Rev. Lett. 53 1951 (1984)

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение