Электронная микроскопия атомного разрешения

Современные просвечивающие электронные микроскопы имеют разрешение до 1,5-2 A что позволяет непосредственно наблюдать атомы. Изложена теория формирования электронно-микроскопического изображения атомного разрешения, влияние аберраций, свойства передаточной функции, методы обработки, расчета и интерпретации изображений. Рассмотрена связь электронной микроскопии и электронной дифракции. Приведены примеры электронно-микроскопических исследований атомной структуры различных объектов — молекул, кристаллов, различных органических и неорганических соединений, в том числе минералов, полупроводников, исследований дефектов кристаллической структуры и ее формирования при образовании кристаллов. Ил. 50. Библиогр. ссылок 113 (115 назв.)

Текст pdf (3 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1987v030n05ABEH002898

PACS: 07.78.+s, 68.37.Lp, 61.66.−f (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0152.198705c.0075
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1987/5/c/
Цитата: Вайнштейн Б К "Электронная микроскопия атомного разрешения" УФН 152 75–122 (1987)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 Электронная микроскопия атомного разрешения
A1 Вайнштейн,Б.К.
PB Успехи физических наук
PY 1987
FD 10 May, 1987
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 152
IS 5
SP 75-122
DO 10.3367/UFNr.0152.198705c.0075
LK https://ufn.ru/ru/articles/1987/5/c/

English citation: Vainshtein B K “Electron microscopy at atomic resolution” Sov. Phys. Usp. 30 393–419 (1987); DOI: 10.1070/PU1987v030n05ABEH002898