Выпуски

 / 

1987

 / 

Май

  

Обзоры актуальных проблем


Электронная микроскопия атомного разрешения

Современные просвечивающие электронные микроскопы имеют разрешение до 1,5-2 A что позволяет непосредственно наблюдать атомы. Изложена теория формирования электронно-микроскопического изображения атомного разрешения, влияние аберраций, свойства передаточной функции, методы обработки, расчета и интерпретации изображений. Рассмотрена связь электронной микроскопии и электронной дифракции. Приведены примеры электронно-микроскопических исследований атомной структуры различных объектов — молекул, кристаллов, различных органических и неорганических соединений, в том числе минералов, полупроводников, исследований дефектов кристаллической структуры и ее формирования при образовании кристаллов. Ил. 50. Библиогр. ссылок 113 (115 назв.)

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
PACS: 07.78.+s, 68.37.Lp, 61.66.−f (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0152.198705c.0075
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1987/5/c/
Цитата: Вайнштейн Б К "Электронная микроскопия атомного разрешения" УФН 152 75–122 (1987)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline RefWorks
Русский English
RT Journal
T1 Электронная микроскопия атомного разрешения
A1 Вайнштейн,Б.К.
PB Успехи физических наук
PY 1987
FD 10 May, 1987
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 152
IS 5
SP 75-122
DO 10.3367/UFNr.0152.198705c.0075
LK https://ufn.ru/ru/articles/1987/5/c/

English citation: Vainshtein B K “Electron microscopy at atomic resolutionSov. Phys. Usp. 30 393–419 (1987); DOI: 10.1070/PU1987v030n05ABEH002898

© Успехи физических наук, 1918–2020
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение