Выпуски

 / 

1987

 / 

Май

  

Обзоры актуальных проблем


Электронная микроскопия атомного разрешения

Современные просвечивающие электронные микроскопы имеют разрешение до 1,5-2 A что позволяет непосредственно наблюдать атомы. Изложена теория формирования электронно-микроскопического изображения атомного разрешения, влияние аберраций, свойства передаточной функции, методы обработки, расчета и интерпретации изображений. Рассмотрена связь электронной микроскопии и электронной дифракции. Приведены примеры электронно-микроскопических исследований атомной структуры различных объектов — молекул, кристаллов, различных органических и неорганических соединений, в том числе минералов, полупроводников, исследований дефектов кристаллической структуры и ее формирования при образовании кристаллов. Ил. 50. Библиогр. ссылок 113 (115 назв.)

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
PACS: 07.78.+s, 68.37.Lp, 61.66.−f (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0152.198705c.0075
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1987/5/c/
Цитата: Вайнштейн Б К "Электронная микроскопия атомного разрешения" УФН 152 75–122 (1987)
BibTex BibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
Русский English
%0 Journal Article
%T Электронная микроскопия атомного разрешения
%A Б. К. Вайнштейн
%I Успехи физических наук
%D 1987
%J Усп. физ. наук
%V 152
%N 5
%P 75-122
%U https://ufn.ru/ru/articles/1987/5/c/
%U https://doi.org/10.3367/UFNr.0152.198705c.0075

English citation: Vainshtein B K “Electron microscopy at atomic resolutionSov. Phys. Usp. 30 393–419 (1987); DOI: 10.1070/PU1987v030n05ABEH002898

© Успехи физических наук, 1918–2020
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение