Выпуски

 / 

1986

 / 

Июнь

  

Новые приборы и методы исследований


EXAFS-спектроскопия — новый метод структурных исследований

EXAFS-спектроскопия — новый метод исследования вещества, позволяющий определять структурные параметры ближнего окружения атомов с выбранным Z, спектры которых изучаются. Среди этих параметров — межатомные расстояния, координационные числа, амплитуды тепловых колебаний. Существование дальнего порядка в исследуемых образцах не требуется. В зависимости от применяемой методики получения спектров можно анализировать ближнее окружение атомов, расположенных либо в объеме образца, либо на его поверхности. Рассмотрены физические явления, лежащие в основе метода, приемы математической обработки экспериментальных данных, различные варианты получения спектров. Приведен ряд примеров использования EXAFS-спектроскопии при исследовании суперионных проводников, соединений с переменной валентностью, биоорганических молекул, твердых растворов, катализаторов, поверхностных слоев, интеркалированных соединений. Табл. 3. Ил. 21. Библиогр. ссылок 168 (178 назв.).

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
PACS: 78.70.Dm, 61.10.Ht (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0149.198606d.0275
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1986/6/d/
Цитата: Боровский И Б, Ведринский Р В, Крайзман В Л, Саченко В П "EXAFS-спектроскопия — новый метод структурных исследований" УФН 149 275–324 (1986)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Borovskii I B, Vedrinskii R V, Kraizman V L, Sachenko V P “EXAFS spectroscopy: a new method for structural investigationSov. Phys. Usp. 29 539–569 (1986); DOI: 10.1070/PU1986v029n06ABEH003418

© Успехи физических наук, 1918–2019
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение