EXAFS-спектроскопия — новый метод структурных исследований

EXAFS-спектроскопия — новый метод исследования вещества, позволяющий определять структурные параметры ближнего окружения атомов с выбранным Z, спектры которых изучаются. Среди этих параметров — межатомные расстояния, координационные числа, амплитуды тепловых колебаний. Существование дальнего порядка в исследуемых образцах не требуется. В зависимости от применяемой методики получения спектров можно анализировать ближнее окружение атомов, расположенных либо в объеме образца, либо на его поверхности. Рассмотрены физические явления, лежащие в основе метода, приемы математической обработки экспериментальных данных, различные варианты получения спектров. Приведен ряд примеров использования EXAFS-спектроскопии при исследовании суперионных проводников, соединений с переменной валентностью, биоорганических молекул, твердых растворов, катализаторов, поверхностных слоев, интеркалированных соединений. Табл. 3. Ил. 21. Библиогр. ссылок 168 (178 назв.).

Текст pdf (3,5 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1986v029n06ABEH003418

PACS: 78.70.Dm, 61.10.Ht (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0149.198606d.0275
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1986/6/d/
Цитата: Боровский И Б, Ведринский Р В, Крайзман В Л, Саченко В П "EXAFS-спектроскопия — новый метод структурных исследований" УФН 149 275–324 (1986)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 EXAFS-спектроскопия — новый метод структурных исследований
A1 Боровский,И.Б.
A1 Ведринский,Р.В.
A1 Крайзман,В.Л.
A1 Саченко,В.П.
PB Успехи физических наук
PY 1986
FD 10 Jun, 1986
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 149
IS 6
SP 275-324
DO 10.3367/UFNr.0149.198606d.0275
LK https://ufn.ru/ru/articles/1986/6/d/

English citation: Borovskii I B, Vedrinskii R V, Kraizman V L, Sachenko V P “EXAFS spectroscopy: a new method for structural investigation” Sov. Phys. Usp. 29 539–569 (1986); DOI: 10.1070/PU1986v029n06ABEH003418