EXAFS-спектроскопия — новый метод исследования вещества, позволяющий определять структурные параметры ближнего окружения атомов с выбранным Z, спектры которых изучаются. Среди этих параметров — межатомные расстояния, координационные числа, амплитуды тепловых колебаний. Существование дальнего порядка в исследуемых образцах не требуется. В зависимости от применяемой методики получения спектров можно анализировать ближнее окружение атомов, расположенных либо в объеме образца, либо на его поверхности. Рассмотрены физические явления, лежащие в основе метода, приемы математической обработки экспериментальных данных, различные варианты получения спектров. Приведен ряд примеров использования EXAFS-спектроскопии при исследовании суперионных проводников, соединений с переменной валентностью, биоорганических молекул, твердых растворов, катализаторов, поверхностных слоев, интеркалированных соединений. Табл. 3. Ил. 21. Библиогр. ссылок 168 (178 назв.).