Электронная микроскопия магнитной структуры тонких пленок

Содержание: Режим работы просвечивающего микроскопа при отображении магнитной структуры ТМП. Контраст изображения магнитных структур. Изучение структуры доменных границ. Тонкая структура намагниченности внутри доменов (рябь намагниченности). Статические доменные структуры. Исследование перемагничивания пленок. Цитированная литература.

Текст pdf (8 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1972v015n01ABEH004946

PACS: 75.25.+z, 75.70.Ak, 68.37.Lp, 75.60.Ch, 75.60.Ej (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0106.197202b.0229
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1972/2/b/
Цитата: Петров В И, Спивак Г В, Павлюченко О П "Электронная микроскопия магнитной структуры тонких пленок" УФН 106 229–278 (1972)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Petrov V I, Spivak G V, Pavlyuchenko O P “Electron microscopy of the magnetic structure of thin films” Sov. Phys. Usp. 15 66–94 (1972); DOI: 10.1070/PU1972v015n01ABEH004946