Электронная микроскопия магнитной структуры тонких пленок

Содержание: Режим работы просвечивающего микроскопа при отображении магнитной структуры ТМП. Контраст изображения магнитных структур. Изучение структуры доменных границ. Тонкая структура намагниченности внутри доменов (рябь намагниченности). Статические доменные структуры. Исследование перемагничивания пленок. Цитированная литература.

Текст pdf (8 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1972v015n01ABEH004946

PACS: 75.25.+z, 75.70.Ak, 68.37.Lp, 75.60.Ch, 75.60.Ej (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0106.197202b.0229
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1972/2/b/
Цитата: Петров В И, Спивак Г В, Павлюченко О П "Электронная микроскопия магнитной структуры тонких пленок" УФН 106 229–278 (1972)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)

MedlineRefWorks

Русский

English

PT Journal Article
TI Электронная микроскопия магнитной структуры тонких пленок
AU Петров В И
FAU Петров ВИ
AU Спивак Г В
FAU Спивак ГВ
AU Павлюченко О П
FAU Павлюченко ОП
DP 10 Feb, 1972
TA Усп. физ. наук
VI 106
IP 2
PG 229-278
RX 10.3367/UFNr.0106.197202b.0229
URL https://ufn.ru/ru/articles/1972/2/b/
SO Усп. физ. наук 1972 Feb 10;106(2):229-278

English citation: Petrov V I, Spivak G V, Pavlyuchenko O P “Electron microscopy of the magnetic structure of thin films” Sov. Phys. Usp. 15 66–94 (1972); DOI: 10.1070/PU1972v015n01ABEH004946