Выпуски

 / 

1972

 / 

Февраль

  

Обзоры актуальных проблем


Электронная микроскопия магнитной структуры тонких пленок

Содержание: Режим работы просвечивающего микроскопа при отображении магнитной структуры ТМП. Контраст изображения магнитных структур. Изучение структуры доменных границ. Тонкая структура намагниченности внутри доменов (рябь намагниченности). Статические доменные структуры. Исследование перемагничивания пленок. Цитированная литература.

Текст pdf (8 Мб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1972v015n01ABEH004946
PACS: 75.25.+z, 75.70.Ak, 68.37.Lp, 75.60.Ch, 75.60.Ej (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0106.197202b.0229
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1972/2/b/
Цитата: Петров В И, Спивак Г В, Павлюченко О П "Электронная микроскопия магнитной структуры тонких пленок" УФН 106 229–278 (1972)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Petrov V I, Spivak G V, Pavlyuchenko O P “Electron microscopy of the magnetic structure of thin filmsSov. Phys. Usp. 15 66–94 (1972); DOI: 10.1070/PU1972v015n01ABEH004946

Статьи, ссылающиеся на эту (13) ↓ Похожие статьи (20)

  1. Panaetov V P Phys. Metals Metallogr. 121 412 (2020)
  2. Komogortsev S V, Iskhakov R S, Fel’k V A J. Exp. Theor. Phys. 128 754 (2019)
  3. Arbouet A, Caruso G M, Houdellier F Advances in Imaging and Electron Physics Vol. 207 (2018) p. 1
  4. Panaetov V P Russ Phys J 60 371 (2017)
  5. Filippov B N, Dubovik M N, Zverev V V Journal of Magnetism and Magnetic Materials 374 600 (2015)
  6. Dzhuraev D R, Sokolov B Yu, Faiziev Sh Sh Russ Phys J 54 382 (2011)
  7. Sokolov B Yu Phys. Solid State 52 2527 (2010)
  8. Panaétov V P Phys. Solid State 51 2064 (2009)
  9. Zweck J, Uhlig T Handbook of Magnetism and Advanced Magnetic Materials 1 (2007)
  10. Sokolov B Yu Jetp Lett. 83 372 (2006)
  11. Filippov B N 28 707 (2002)
  12. Matteucci G, Missiroli G, Pozzi G IEEE Trans. Magn. 20 1870 (1984)
  13. Marti J, Paul D I 48 4678 (1977)

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение