Содержание: Описание полупроводниковой поверхности с помощью моделей. Получение чистых поверхностей. Свойства чистых полупроводниковых поверхностей.
DOI:10.3367/UFNr.0082.196402f.0325 URL: https://ufn.ru/ru/articles/1964/2/f/ Цитата: Гейланд Г "Образование и свойства чистых поверхностей полупроводников" УФН82 325–386 (1964)
TY JOUR
TI Obrazovanie i svoistva chistykh poverkhnostei poluprovodnikov
AU Гейланд, Г.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 1964
JO Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JA Usp. Fiz. Nauk
VL 82
IS 2
SP 325-386
UR https://ufn.ru/ru/articles/1964/2/f/
ER https://doi.org/10.3367/UFNr.0082.196402f.0325