Содержание: Фокусировка отражением. Контактная микрорадиография. Проекционная микрорадиография. Микроанализ на основе дифференциального поглощения. Эмиссионный микроанализ.
DOI:10.3367/UFNr.0070.196003e.0565 URL: https://ufn.ru/ru/articles/1960/3/e/ Цитата: Косслет В "Микроскопия с помощью рентгеновских лучей" УФН70 565–574 (1960)
TY JOUR
TI Mikroskopiya s pomoshch'yu rentgenovskikh luchei
AU Косслет, В.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 1960
JO Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JA Usp. Fiz. Nauk
VL 70
IS 3
SP 565-574
UR https://ufn.ru/ru/articles/1960/3/e/
ER https://doi.org/10.3367/UFNr.0070.196003e.0565