Диффракционная линия на рентгенограмме поликристалла обладает некоторой шириной, которая зависит как от условий эксперимента (размер образца, расходимость пучка, нестрогая монохроматичность пучка и т. д.), так и от кристаллической структуры, а именно, размера кристаллических зёрен и характера искажения решётки. Исследование этих двух особенностей; кристаллической структуры при помощи измерения расширения диффракционных линий служило предметом весьма значительного количества работ.

%0 Journal Article
%T Экспериментальное определение истинной формы диффракционной линии на рентгенограмме поликристалла
%A А. И. Китайгородский
%I Успехи физических наук
%D 1951
%J Усп. физ. наук
%V 43
%N 1
%P 152-154
%U https://ufn.ru/ru/articles/1951/1/o/
%U https://doi.org/10.3367/UFNr.0043.195101o.0152