Структуру микрочастиц, молекул, атомов и атомных ядер изучают с помощью рассеяния этими частицами различных волн: электромагнитных, электронных, нейтронных и др. Распределение интенсивностей рассеянных волн, наблюдаемое на удалённом экране, образует диффракционное изображение частицы. При этом именно упругое рассеяние, происходящее без обмена энергией между волнами и рассеивающей частицей, есть то, при котором получается «снимок» с объекта в неизменном исходном состоянии.

RT Journal
T1 Микрочастица и её диффракционное изображение
A1 Блохинцев,Д.И.
PB Успехи физических наук
PY 1948
FD 10 Nov, 1948
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 36
IS 11
SP 367-371
DO 10.3367/UFNr.0036.194811h.0367
LK https://ufn.ru/ru/articles/1948/11/h/