Трековые детекторы широко применяются в фундаментальных и прикладных исследованиях на современных ускорителях, при изучении природы частиц космического происхождения, для мюонографии, способствуя пониманию структуры и свойств материи. Преимуществом методики является наглядность результатов, возможность восстановления траекторий, вершин взаимодействия и точек распада частиц с точностью до нескольких микрометров. Специфические особенности различных экспериментов, требующие оригинальных решений при их постановке, обработке и интерпретации данных, обеспечивают мультидисциплинарное развитие тематики. Эволюцию трековой методики, помимо задач экспериментальной физики, определяют проблемы инновационных технологий и создания новых материалов. Эти тенденции можно проследить на примере работы Лаборатории элементарных частиц ФИАН, использующей в течение многих десятков лет в своих экспериментах трековые детекторы различных типов. В обзоре представлены идеи и результаты экспериментальных и модельных исследований мирового уровня, проведённых ранее и проводимых в настоящее время с участием сотрудников лаборатории, а также запланированных на ближайшее будущее.

Ключевые слова: эксперименты на основе трековой методики, моделирование процессов формирования треков, методы обработки и анализа данных трековых детекторов PACS: 29.40.Gx, 61.85.+p, 95.55.Vj (все) DOI: 10.3367/UFNr.2023.10.039585 URL: https://ufn.ru/ru/articles/2024/8/d/ 001343559900004 2-s2.0-85204878923 2024PhyU...67..779G Цитата: Горбунов С А, Волков А Е, Жуков К И, Коновалова Н С, Полухина Н Г, Старков Н И, Щедрина Т В "Трековая методика в современной физике атомного ядра и элементарных частиц, астрофизике и нанотехнологиях" УФН 194 826–852 (2024) BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks Поступила: 30 сентября 2023, доработана: 27 октября 2023, одобрена в печать: 30 октября 2023 English citation: Gorbunov S A, Volkov A E, Zhukov K I, Konovalova N S, Polukhina N G, Starkov N I, Shchedrina T V “Track technique in present-day physics of atomic nuclei and elementary particles, astrophysics, and nanotechnology” Phys. Usp. 67 779–802 (2024); DOI: 10.3367/UFNe.2023.10.039585