Выпуски

 / 

2019

 / 

Декабрь

  

Приборы и методы исследований


Поверхностно-плазменный метод получения пучков отрицательных ионов

  а, б
а Новосибирский национальный исследовательский государственный университет, Академгородок, ул. Пирогова 2, Новосибирск, 630090, Российская Федерация
б Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера СО РАН, просп. акад. Лаврентьева 11, Новосибирск, 630090, Российская Федерация

Повышенный интерес к разработке источников отрицательных ионов связан с развитием их важных применений. Это, прежде всего, тандемные ускорители, высокоэнергетическая имплантация и ускорительная масс-спектрометрия, сверхколлимированные пучки, перезарядная инжекция в циклические ускорители и накопители, перезарядный вывод пучков из циклотронов, инжекторы нейтралов высоких энергий в плазменные установки, перезарядная разводка пучков. Описано развитие источников отрицательных ионов и их применение в исследованиях и в промышленности. Дано описание физических основ и конструкций поверхностно-плазменных источников отрицательных ионов, а также история их разработки.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
Ключевые слова: поверхностно-плазменный метод, поверхностно-плазменный источник (ППИ), работа выхода, отрицательные ионы, цезий, ВЧ-разряд
PACS: 01.65.+g, 29.25.Ni, 52.80.Pi (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2019.04.038558
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2019/12/e/
Цитата: Дудников В Г "Поверхностно-плазменный метод получения пучков отрицательных ионов" УФН 189 1315–1351 (2019)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline RefWorks
Русский English
RT Journal
T1 Поверхностно-плазменный метод получения пучков отрицательных ионов
A1 Дудников,В.Г.
PB Успехи физических наук
PY 2019
FD 10 Dec, 2019
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 189
IS 12
SP 1315-1351
DO 10.3367/UFNr.2019.04.038558
LK https://ufn.ru/ru/articles/2019/12/e/

Поступила: 28 февраля 2018, доработана: 16 февраля 2019, 17 апреля 2019

English citation: Dudnikov V G “Surface-plasma method for the production of negative ion beamsPhys. Usp. 62 1233–1267 (2019); DOI: 10.3367/UFNe.2019.04.038558

© Успехи физических наук, 1918–2020
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение