Микроскоп ближнего поля как инструмент для исследования наночастиц

Показано, что поле переменного диполя, наведённое светом на конце зонда микроскопа ближнего поля, обеспечивает его более высокую разрешающую способность по сравнению с обычным оптическим микроскопом.

Текст pdf (222 Кб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.0180.201001c.0083

PACS: 07.79.Fc, 41.20.−q, 68.37.Vj (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0180.201001c.0083
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2010/1/c/
Web of Science

000278717900003
Scopus

2-s2.0-77954778560
ADS NASA

2010PhyU...53...77O
Цитата: Осадько И С "Микроскоп ближнего поля как инструмент для исследования наночастиц" УФН 180 83–87 (2010)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 Микроскоп ближнего поля как инструмент для исследования наночастиц
A1 Осадько,И.С.
PB Успехи физических наук
PY 2010
FD 10 Jan, 2010
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 180
IS 1
SP 83-87
DO 10.3367/UFNr.0180.201001c.0083
LK https://ufn.ru/ru/articles/2010/1/c/

English citation: Osad’ko I S “The near-field microscope as a tool for studying nanoparticles” Phys. Usp. 53 77–81 (2010); DOI: 10.3367/UFNe.0180.201001c.0083