Выпуски

 / 

2010

 / 

Январь

  

Приборы и методы исследований


Микроскоп ближнего поля как инструмент для исследования наночастиц


Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН, Ленинский проспект 53, Москва, 119991, Российская Федерация

Показано, что поле переменного диполя, наведённое светом на конце зонда микроскопа ближнего поля, обеспечивает его более высокую разрешающую способность по сравнению с обычным оптическим микроскопом.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
English fulltext is available at IOP
PACS: 07.79.Fc, 41.20.−q, 68.37.Vj (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0180.201001c.0083
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2010/1/c/
Цитата: Осадько И С "Микроскоп ближнего поля как инструмент для исследования наночастиц" УФН 180 83–87 (2010)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline RefWorks
Русский English
RT Journal
T1 Микроскоп ближнего поля как инструмент для исследования наночастиц
A1 Осадько,И.С.
PB Успехи физических наук
PY 2010
FD 10 Jan, 2010
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 180
IS 1
SP 83-87
DO 10.3367/UFNr.0180.201001c.0083
LK https://ufn.ru/ru/articles/2010/1/c/

English citation: Osad’ko I S “The near-field microscope as a tool for studying nanoparticlesPhys. Usp. 53 77–81 (2010); DOI: 10.3367/UFNe.0180.201001c.0083

© Успехи физических наук, 1918–2021
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение