Выпуски

 / 

2010

 / 

Январь

  

Приборы и методы исследований


Микроскоп ближнего поля как инструмент для исследования наночастиц


Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН, Ленинский проспект 53, Москва, 119991, Российская Федерация

Показано, что поле переменного диполя, наведённое светом на конце зонда микроскопа ближнего поля, обеспечивает его более высокую разрешающую способность по сравнению с обычным оптическим микроскопом.

Текст pdf (222 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.0180.201001c.0083
PACS: 07.79.Fc, 41.20.−q, 68.37.Vj (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0180.201001c.0083
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2010/1/c/
000278717900003
2-s2.0-77954778560
2010PhyU...53...77O
Цитата: Осадько И С "Микроскоп ближнего поля как инструмент для исследования наночастиц" УФН 180 83–87 (2010)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline RefWorks
Русский English
RT Journal
T1 The near-field microscope as a tool for studying nanoparticles
A1 Osad’ko,I.S.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 2010
FD 10 Jan, 2010
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JO Usp. Fiz. Nauk
VO 180
IS 1
SP 83-87
DO 10.3367/UFNr.0180.201001c.0083
LK https://ufn.ru/ru/articles/2010/1/c/

English citation: Osad’ko I S “The near-field microscope as a tool for studying nanoparticlesPhys. Usp. 53 77–81 (2010); DOI: 10.3367/UFNe.0180.201001c.0083

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение