Микроскоп ближнего поля как инструмент для исследования наночастиц

Показано, что поле переменного диполя, наведённое светом на конце зонда микроскопа ближнего поля, обеспечивает его более высокую разрешающую способность по сравнению с обычным оптическим микроскопом.

Текст pdf (222 Кб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.0180.201001c.0083

PACS: 07.79.Fc, 41.20.−q, 68.37.Vj (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0180.201001c.0083
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2010/1/c/
Web of Science

000278717900003
Scopus

2-s2.0-77954778560
ADS NASA

2010PhyU...53...77O
Цитата: Осадько И С "Микроскоп ближнего поля как инструмент для исследования наночастиц" УФН 180 83–87 (2010)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 The near-field microscope as a tool for studying nanoparticles
A1 Osad’ko,I.S.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 2010
FD 10 Jan, 2010
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JO Usp. Fiz. Nauk
VO 180
IS 1
SP 83-87
DO 10.3367/UFNr.0180.201001c.0083
LK https://ufn.ru/ru/articles/2010/1/c/

English citation: Osad’ko I S “The near-field microscope as a tool for studying nanoparticles” Phys. Usp. 53 77–81 (2010); DOI: 10.3367/UFNe.0180.201001c.0083