Приведен анализ современного состояния исследований процессов и механизмов дефектообразования и трекообразования при облучении материалов быстрыми ионами. Показано, что природа и морфология треков зависят от типа твердых тел, структурного состояния и плотности выделенной энергии в их электронную подсистему. Релаксация сильных электронных возбуждений имеет доминирующее значение в процессе трекообразования. Обсуждаются механизмы формирования прерывистых треков, трековой миграции атомов и трекового каналирования ионов.

PACS: 61.80.−x, 61.82.−d, 61.85.+p (все) DOI: 10.3367/UFNr.0173.200312b.1287 URL: https://ufn.ru/ru/articles/2003/12/b/ 000221527200002 Цитата: Комаров Ф Ф "Дефектообразование и трекообразование в твердых телах при облучении ионами сверхвысоких энергий" УФН 173 1287–1318 (2003) BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks English citation: Komarov F F “Defect and track formation in solids irradiated by superhigh-energy ions” Phys. Usp. 46 1253–1282 (2003); DOI: 10.1070/PU2003v046n12ABEH001286