RSS-ленты
РусскийEnglish
Выпуск 9, 2026
Том год страница
Выпуски Авторы PACS Подписчикам Для авторов

Выпуски

 / 

2002

 / 

январь

←  →

Приборы и методы исследований


Применение позитронной аннигиляционной спектроскопии для изучения строения вещества

,
Государственный научный центр Российской Федерации «Институт теоретической и экспериментальной физики им. А.И. Алиханова», ул. Б. Черемушкинская 25, Москва, 117259, Российская Федерация

Рассмотрен сравнительно новый метод изучения строения вещества — метод позитронной аннигиляционной спектроскопии (ПАС), включающий измерения времен жизни позитронов, методы определения вероятностей 3γ- и 2γ-аннигиляций позитронов, влияние на основные характеристики аннигиляции различных внешних факторов. Проанализированы особенности процесса аннигиляции позитронов в ионных кристаллах, полупроводниках, металлах и некоторых конденсированных средах, возможности и перспективы ПАС для изучения их электронной и дефектной структуры. Представлены примеры применения ПАС в радиационной физике и химии различных веществ, в физике и химии растворов.

Текст pdf (392 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU2002v045n01ABEH000971
PACS: 71.60.+z, 78.70.Bj, 82.55.+e (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0172.200201c.0067
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2002/1/c/
000175529500003
Цитата: Графутин В И, Прокопьев Е П "Применение позитронной аннигиляционной спектроскопии для изучения строения вещества" УФН 172 67–83 (2002)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Grafutin V I, Prokop’ev E P “Positron annihilation spectroscopy in materials structure studies” Phys. Usp. 45 59–74 (2002); DOI: 10.1070/PU2002v045n01ABEH000971

Список литературы (86) Статьи, ссылающиеся на эту (100) Похожие статьи (20) ↓

  1. А.Д. Погребняк, А.Г. Пономарев и др. «Применение микро- и нанозондов для анализа малоразмерных 3D материалов, наносистем и нанообъектов» УФН 182 287–321 (2012)
  2. А.Д. Погребняк, Ю.Н. Тюрин «Модификация свойств материалов и осаждение покрытий с помощью плазменных струй» УФН 175 515–544 (2005)
  3. А.Д. Погребняк, А.А. Багдасарян и др. «Многокомпонентные нанокомпозитные покрытия с адаптивным поведением в поверхностной инженерии» УФН 187 629–652 (2017)
  4. М.А. Проскурнин, В.Р. Хабибуллин и др. «Фототермическая и оптоакустическая спектроскопия: современное состояние и перспективы» УФН 192 294–340 (2022)
  5. Г.Б. Альтшулер, М.В. Иночкин «Нелинейные линзы и их применения» УФН 163 (7) 65–84 (1993)
  6. Е.Б. Левичев «Накопители электронов с малым эмиттансом» УФН 188 31–54 (2018)
  7. В.Л. Вакс, В.А. Анфертьев и др. «Спектроскопия высокого разрешения терагерцевого частотного диапазона для аналитических приложений» УФН 190 765–776 (2020)
  8. С.А. Пшеничнюк, Н.Л. Асфандиаров и др. «Современное состояние и перспективы спектроскопии диссоциативного захвата электронов» УФН 192 177–204 (2022)
  9. А.И. Проценко, Я.А. Элиович и др. «Исследование динамики реакции Белоусова—Жаботинского методом времяразрешающей рентгеновской спектроскопии поглощения с использованием адаптивных элементов рентгеновской оптики» УФН 193 1335–1339 (2023)
  10. Н.Н. Кудрявцев, О.А. Мазяр, А.М. Сухов «Методы генерации молекулярных пучков» УФН 163 (6) 75–93 (1993)
  11. О.В. Верходанов, А.Г. Дорошкевич «Системы пикселизации неба для анализа протяжённого излучения» УФН 183 849–862 (2013)
  12. В.В. Лидер «Рентгеновские кристаллические интерферометры» УФН 184 1217–1236 (2014)
  13. П.Г. Крюков «Лазеры и волоконная оптика для астрофизики» УФН 188 1179–1186 (2018)
  14. Е.Н. Рагозин, Е.А. Вишняков и др. «Спектрометры для мягкого рентгеновского диапазона на основе апериодических отражательных решёток и их применение» УФН 191 522–542 (2021)
  15. В.В. Лидер «Метод накачки и рентгеновского зондирования» УФН 195 962–981 (2025)
  16. А.Б. Толстогузов, П.Ю. Бабенко, А.Н. Зиновьев «Диагностика поверхности методом спектроскопии обратно рассеянных ионов низких энергий» УФН 196 48–82 (2026)
  17. И.Б. Боровский, Р.В. Ведринский и др. «EXAFS-спектроскопия — новый метод структурных исследований» УФН 149 275–324 (1986)
  18. Г.Г. Бондаренко, Л.Н. Быстров и др. «Применение высоковольтной электронной микроскопии в физике твердого тела» УФН 116 303–314 (1975)
  19. В.В. Налимов, Б.С. Непорент «Системы документации молекулярных спектров» УФН 65 521–540 (1958)
  20. О.В. Иванов, С.А. Никитов, Ю.В. Гуляев «Оболочечные моды волоконных световодов, их свойства и применение» УФН 176 175–202 (2006)

Список формируется автоматически.
© Успехи физических наук, 1918–2026
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение