Рассмотрен сравнительно новый метод изучения строения вещества — метод позитронной аннигиляционной спектроскопии (ПАС), включающий измерения времен жизни позитронов, методы определения вероятностей 3γ- и 2γ-аннигиляций позитронов, влияние на основные характеристики аннигиляции различных внешних факторов. Проанализированы особенности процесса аннигиляции позитронов в ионных кристаллах, полупроводниках, металлах и некоторых конденсированных средах, возможности и перспективы ПАС для изучения их электронной и дефектной структуры. Представлены примеры применения ПАС в радиационной физике и химии различных веществ, в физике и химии растворов.

PACS: 71.60.+z, 78.70.Bj, 82.55.+e (все) DOI: 10.3367/UFNr.0172.200201c.0067 URL: https://ufn.ru/ru/articles/2002/1/c/ 000175529500003 Цитата: Графутин В И, Прокопьев Е П "Применение позитронной аннигиляционной спектроскопии для изучения строения вещества" УФН 172 67–83 (2002) BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks English citation: Grafutin V I, Prokop’ev E P “Positron annihilation spectroscopy in materials structure studies” Phys. Usp. 45 59–74 (2002); DOI: 10.1070/PU2002v045n01ABEH000971