Рассмотрен сравнительно новый метод изучения строения вещества — метод позитронной аннигиляционной спектроскопии (ПАС), включающий измерения времен жизни позитронов, методы определения вероятностей 3γ- и 2γ-аннигиляций позитронов, влияние на основные характеристики аннигиляции различных внешних факторов. Проанализированы особенности процесса аннигиляции позитронов в ионных кристаллах, полупроводниках, металлах и некоторых конденсированных средах, возможности и перспективы ПАС для изучения их электронной и дефектной структуры. Представлены примеры применения ПАС в радиационной физике и химии различных веществ, в физике и химии растворов.

PACS: 71.60.+z, 78.70.Bj, 82.55.+e (все) DOI: 10.3367/UFNr.0172.200201c.0067 URL: https://ufn.ru/ru/articles/2002/1/c/ 000175529500003 Цитата: Графутин В И, Прокопьев Е П "Применение позитронной аннигиляционной спектроскопии для изучения строения вещества" УФН 172 67–83 (2002) BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline RefWorks Русский English RT Journal T1 Применение позитронной аннигиляционной спектроскопии для изучения строения вещества A1 Графутин,В.И. A1 Прокопьев,Е.П. PB Успехи физических наук PY 2002 FD 10 Jan, 2002 JF Успехи физических наук JO Усп. физ. наук VO 172 IS 1 SP 67-83 DO 10.3367/UFNr.0172.200201c.0067 LK https://ufn.ru/ru/articles/2002/1/c/ English citation: Grafutin V I, Prokop’ev E P “Positron annihilation spectroscopy in materials structure studies” Phys. Usp. 45 59–74 (2002); DOI: 10.1070/PU2002v045n01ABEH000971