RSS-ленты
РусскийEnglish
Выпуск 4, 2024
Том год страница
Выпуски Авторы PACS Подписчикам Для авторов

Выпуски

 / 

1997

 / 

Июнь

←  →

Обзоры актуальных проблем


Шум вида 1/f и нелинейные эффекты в тонких металлических пленках


Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники", пл. Шокина, д. 1, Зеленоград, Москва, 124498, Российская Федерация

Дан обзор результатов исследований 1/f-шума и нелинейных эффектов в тонких металлических пленках. Приводятся экспериментальные данные по зависимостям уровня 1/f-шума и коэффициента кубической нелинейности вольт-амперной характеристики (ВАХ) пленок от толщины, температуры, внутренних механических напряжений. Представлены также результаты исследования влияния микроструктуры пленок на уровень 1/f-шума. Спектральная плотность мощности 1/f-шума и коэффициент нелинейности ВАХ имеют активационную зависимость от температуры и экспоненциальную от внутренних механических напряжений для металлических пленок с повышенной концентрацией подвижных дефектов. Проанализирована физическая модель 1/f-шума и нелинейности ВАХ в металлических пленках. Модель основана на механизме рождения и гибели квазиравновесных вакансий в объеме пленки. Модель позволяет объяснить взаимосвязь между 1/f-шумом и нелинейностью ВАХ в металлических пленках и наблюдаемые экспериментальные результаты.

Текст pdf (520 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1997v040n06ABEH000246
PACS: 72.70.+m, 73.50.Td (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0167.199706c.0623
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1997/6/c/
A1997XM47200003
Цитата: Жигальский Г П "Шум вида 1/f и нелинейные эффекты в тонких металлических пленках" УФН 167 623–648 (1997)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Zhigal’skii G P “1/f noise and nonlinear effects in thin metal films” Phys. Usp. 40 599–622 (1997); DOI: 10.1070/PU1997v040n06ABEH000246

Список литературы (214) Статьи, ссылающиеся на эту (41) ↓ Похожие статьи (20)

  1. Konovalov V, Lukin K Radio phys. radio astron. 27 229 (2022)
  2. Berlin-Udi M, Matthiesen C et al Phys. Rev. B 106 (3) (2022)
  3. Torkhov N A, Evstigneev M P et al Symmetry 13 2391 (2021)
  4. Ermachikhin A V, Vorobyov Y V et al J. Phys.: Conf. Ser. 2103 012105 (2021)
  5. Nadezhdinskii A I, Ponurovskii Ya Ya et al Phys. Wave Phen. 28 362 (2020)
  6. Bondariev A, Horbatyi I et al Measurement 136 269 (2019)
  7. Torkhov N A Semiconductors 53 28 (2019)
  8. Zhong JiaQiang, Zhang W et al IEEE Trans. Appl. Supercond. 29 1 (2019)
  9. Noel C, Berlin-Udi M et al Phys. Rev. A 99 (6) (2019)
  10. Handziuk V, Gasparyan F et al Nanotechnology 29 385704 (2018)
  11. Gasparyan F V J. Contemp. Phys. 53 376 (2018)
  12. Achahour A, Leroy G et al Thin Solid Films 645 70 (2018)
  13. Achahour A, Leroy G et al 2017 International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), (2017) p. 1
  14. Slimi H, Achahour A et al 2017 International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), (2017) p. 1
  15. Beyne S, Croes K et al 119 (18) (2016)
  16. Ahmed M, Butler D P Microsyst Technol 22 367 (2016)
  17. Li R, Wang J et al Physica A: Statistical Mechanics and its Applications 450 531 (2016)
  18. Dmitriev A I, Talantsev A D et al J. Exp. Theor. Phys. 123 303 (2016)
  19. Patange K B, Khan A R et al Investigations into Living Systems, Artificial Life, and Real-World Solutions chapter 6 (2013) p. 44
  20. Belogolovskii M A, Boilo I V, Shaternik V E Usp. Fiz. Met. 12 157 (2011)
  21. Patange K B, Khan A R et al 2 1 (2011)
  22. Zhigal’ski G P J. Commun. Technol. Electron. 55 241 (2010)
  23. Kaulakys B, Alaburda M J. Stat. Mech. 2009 P02051 (2009)
  24. Mach P, Radev R, Pietrikova A 2008 2nd Electronics Systemintegration Technology Conference, (2008) p. 1141
  25. Kaulakys B, Gontis V, Alaburda M Phys. Rev. E 71 (5) (2005)
  26. Khlil R, El H A, Jin Y 98 (9) (2005)
  27. Melkonyan S V, Aroutiounian V M et al Physica B: Condensed Matter 357 398 (2005)
  28. Kaulakys B, Ruseckas J Phys. Rev. E 70 (2) (2004)
  29. Zhigal’skii G P Uspekhi Fizicheskikh Nauk 173 465 (2003)
  30. Kuzovlev Yu E, Medvedev Yu V, Grishin A M Phys. Solid State 44 843 (2002)
  31. STALIUNAS K Int. J. Bifurcation Chaos 11 2845 (2001)
  32. Staliunas K Phys. Rev. E 64 (6) (2001)
  33. Skokov V N, Koverda V P, Reshetnikov A V J. Exp. Theor. Phys. 92 535 (2001)
  34. Kuzovlev Yu E, Medvedev Yu V, Grishin A M Jetp Lett. 72 574 (2000)
  35. Reshetnikov A V, Koverda V P et al Dokl. Phys. 45 515 (2000)
  36. Guo J, Jones B K, Trefan G Microelectronics Reliability 39 1677 (1999)
  37. Gudyma Yu V Tech. Phys. Lett. 25 717 (1999)
  38. Skokov V N, Koverda V P, Reshetnikov A V Jetp Lett. 69 636 (1999)
  39. Melkonyan S V, Gasparyan F V et al Mod. Phys. Lett. B 12 1245 (1998)
  40. Koverda V P, Skokov V N, Skripov V P J. Exp. Theor. Phys. 86 953 (1998)
  41. Kaulakys B, Meškauskas T Phys. Rev. E 58 7013 (1998)
© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение