RSS-ленты
РусскийEnglish
Выпуск 3, 2026
Том год страница
Выпуски Авторы PACS Подписчикам Для авторов

Выпуски

 / 

1997

 / 

Июнь

←  →

Обзоры актуальных проблем


Шум вида 1/f и нелинейные эффекты в тонких металлических пленках


Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники", пл. Шокина, д. 1, Зеленоград, Москва, 124498, Российская Федерация

Дан обзор результатов исследований 1/f-шума и нелинейных эффектов в тонких металлических пленках. Приводятся экспериментальные данные по зависимостям уровня 1/f-шума и коэффициента кубической нелинейности вольт-амперной характеристики (ВАХ) пленок от толщины, температуры, внутренних механических напряжений. Представлены также результаты исследования влияния микроструктуры пленок на уровень 1/f-шума. Спектральная плотность мощности 1/f-шума и коэффициент нелинейности ВАХ имеют активационную зависимость от температуры и экспоненциальную от внутренних механических напряжений для металлических пленок с повышенной концентрацией подвижных дефектов. Проанализирована физическая модель 1/f-шума и нелинейности ВАХ в металлических пленках. Модель основана на механизме рождения и гибели квазиравновесных вакансий в объеме пленки. Модель позволяет объяснить взаимосвязь между 1/f-шумом и нелинейностью ВАХ в металлических пленках и наблюдаемые экспериментальные результаты.

Текст pdf (520 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1997v040n06ABEH000246
PACS: 72.70.+m, 73.50.Td (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0167.199706c.0623
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1997/6/c/
A1997XM47200003
Цитата: Жигальский Г П "Шум вида 1/f и нелинейные эффекты в тонких металлических пленках" УФН 167 623–648 (1997)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Zhigal’skii G P “1/f noise and nonlinear effects in thin metal films” Phys. Usp. 40 599–622 (1997); DOI: 10.1070/PU1997v040n06ABEH000246

Список литературы (214) Статьи, ссылающиеся на эту (43) ↓ Похожие статьи (20)

  1. Ermachikhin A V, Litvinov V G et al Eurasian phys. tech. j. 19 (4(42)) 51 (2022)
  2. Konovalov V, Lukin K Radio phys. radio astron. 27 (3) 229 (2022)
  3. Berlin-Udi M, Matthiesen C et al Phys. Rev. B 106 (3) (2022)
  4. Torkhov N A, Evstigneev M P et al Symmetry 13 (12) 2391 (2021)
  5. Ermachikhin A V, Vorobyov Y V et al J. Phys.: Conf. Ser. 2103 (1) 012105 (2021)
  6. Nadezhdinskii A I, Ponurovskii Ya Ya et al Phys. Wave Phen. 28 (4) 362 (2020)
  7. Bondariev A, Horbatyi I et al Measurement 136 269 (2019)
  8. Torkhov N A Semiconductors 53 (1) 28 (2019)
  9. Zhong JiaQiang, Zhang W et al IEEE Trans. Appl. Supercond. 29 (5) 1 (2019)
  10. Noel C, Berlin-Udi M et al Phys. Rev. A 99 (6) (2019)
  11. Achahour A, Leroy G et al Thin Solid Films 645 70 (2018)
  12. Gasparyan F V J. Contemp. Phys. 53 (4) 376 (2018)
  13. Handziuk V, Gasparyan F et al Nanotechnology 29 (38) 385704 (2018)
  14. Achahour A, Leroy G et al 2017 International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), (2017) p. 1
  15. Slimi H, Achahour A et al 2017 International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), (2017) p. 1
  16. Dmitriev A I, Talantsev A D et al J. Exp. Theor. Phys. 123 (2) 303 (2016)
  17. Ahmed M, Butler D P Microsyst Technol 22 (2) 367 (2016)
  18. Li R, Wang J et al Physica A: Statistical Mechanics and its Applications 450 531 (2016)
  19. Beyne S, Croes K et al Journal of Applied Physics 119 (18) (2016)
  20. Patange K B, Khan A R et al Investigations into Living Systems, Artificial Life, and Real-World Solutions chapter 6 (2013) p. 44
  21. Patange K B, Khan A R et al International Journal of Artificial Life Research 2 (4) 1 (2011)
  22. Belogolovskii M A, Boilo I V, Shaternik V E Usp. Fiz. Met. 12 (2) 157 (2011)
  23. Zhigal’ski G P J. Commun. Technol. Electron. 55 (3) 241 (2010)
  24. Kaulakys B, Alaburda M J. Stat. Mech. 2009 (02) P02051 (2009)
  25. Mach P, Radev R, Pietrikova A 2008 2nd Electronics Systemintegration Technology Conference, (2008) p. 1141
  26. Melkonyan S V, Aroutiounian V M et al Physica B: Condensed Matter 357 (3-4) 398 (2005)
  27. Kaulakys B, Gontis V, Alaburda M Phys. Rev. E 71 (5) (2005)
  28. Khlil R, El H A, Jin Y Journal of Applied Physics 98 (9) (2005)
  29. Kaulakys B, Ruseckas J Phys. Rev. E 70 (2) (2004)
  30. Zhigal’skii G P Uspekhi Fizicheskikh Nauk 173 (5) 465 (2003)
  31. Kuzovlev Yu E, Medvedev Yu V, Grishin A M Phys. Solid State 44 (5) 843 (2002)
  32. Staliunas K Phys. Rev. E 64 (6) (2001)
  33. Skokov V N, Koverda V P, Reshetnikov A V J. Exp. Theor. Phys. 92 (3) 535 (2001)
  34. STALIUNAS K Int. J. Bifurcation Chaos 11 (11) 2845 (2001)
  35. Skokov V N, Reshetnikov A V et al High Temperature 39 (2) 296 (2001)
  36. Reshetnikov A V, Koverda V P et al Dokl. Phys. 45 (10) 515 (2000)
  37. Kuzovlev Yu E, Medvedev Yu V, Grishin A M Jetp Lett. 72 (11) 574 (2000)
  38. Gudyma Yu V Tech. Phys. Lett. 25 (9) 717 (1999)
  39. Guo J, Jones B K, Trefan G Microelectronics Reliability 39 (11) 1677 (1999)
  40. Skokov V N, Koverda V P, Reshetnikov A V Jetp Lett. 69 (8) 636 (1999)
  41. Kaulakys B, Meškauskas T Phys. Rev. E 58 (6) 7013 (1998)
  42. Melkonyan S V, Gasparyan F V et al Mod. Phys. Lett. B 12 (29n30) 1245 (1998)
  43. Koverda V P, Skokov V N, Skripov V P J. Exp. Theor. Phys. 86 (5) 953 (1998)
© Успехи физических наук, 1918–2026
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение