RSS-ленты
РусскийEnglish
Выпуск 11, 2024
Том год страница
Выпуски Авторы PACS Подписчикам Для авторов

Выпуски

 / 

1993

 / 

Март

←  →

Обзоры актуальных проблем


Процессы ионизации и тушения возбужденных атомов с образованием быстрых электронов

,

Рассмотрены методы и результаты исследований реакций с участием возбужденных атомов, в результате которых образуются электроны с энергией, превышающей среднюю энергию распределения электронов в плазме. Особое внимание уделяется методу плазменной электронной спектроскопии (ПЛЭС), сочетающему в себе преимущества изучения элементарных процессов в плазме с возможностями традиционной электронной спектроскопии. Приводятся данные по исследованию реакций хемоионизации с участием двух возбужденных атомов инертных газов, пеннинговской ионизации атомов и молекул метастабильными атомами гелия, тушения электронами возбужденных атомов инертных газов и ртути. Обсуждается вопрос о влиянии процессов с образованием быстрых электронов на свойства плазмы. Табл. 5. Ил. 16. Библиогр. ссылок 98.

Текст pdf (678 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1993v036n03ABEH002138
PACS: 34.50.Fa, 82.20.Pm, 82.30.Fi (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0163.199303c.0055
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1993/3/c/
Цитата: Колоколов Н Б, Благоев А Б "Процессы ионизации и тушения возбужденных атомов с образованием быстрых электронов" УФН 163 (3) 55–77 (1993)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Kolokolov N B, Blagoev A B “lonization and quenching of excited atoms with the production of fast electrons” Phys. Usp. 36 (3) 152–170 (1993); DOI: 10.1070/PU1993v036n03ABEH002138

Список литературы (98) Статьи, ссылающиеся на эту (61) ↓ Похожие статьи (20)

  1. Wang Zh, Zhao Zh-H, Fu Ya-Ya Acta Phys. Sin. 73 125201 (2024)
  2. Li M, Huang T et al Plasma Chem Plasma Process 43 547 (2023)
  3. Saifutdinov A I, Sysoev S S Plasma Phys. Rep. 49 772 (2023)
  4. Grigorian G M, Demyanov A V et al Plasma Phys. Rep. 49 502 (2023)
  5. Saifutdinov A I, Sysoev S S Instrum Exp Tech 65 75 (2022)
  6. Denysenko I B, Stefanović I et al J. Phys. D: Appl. Phys. 54 065202 (2021)
  7. Grigorian G, Konkol I, Cenian A Materials 14 7812 (2021)
  8. Eliseev S, Timshina M et al J. Phys. D: Appl. Phys. 54 095201 (2021)
  9. Meshchanov A V, Ionikh Yu Z, Akishev Yu S Plasma Phys. Rep. 46 1124 (2020)
  10. Andreev S N, Bernatskiy A V et al J. Phys.: Conf. Ser. 1683 032001 (2020)
  11. Yuan C, Yao J et al 27 (5) (2020)
  12. YAO Jingfeng, YUAN Chengxun et al Plasma Sci. Technol. 22 034006 (2020)
  13. Yao J, Yuan C et al Plasma Sources Sci. Technol. 29 075003 (2020)
  14. Gordeev S V, Ivanov V A, Skoblo Yu E Opt. Spectrosc. 127 418 (2019)
  15. Yu Zh, Yao J et al 9 (9) (2019)
  16. Stefanović I, Sadeghi N et al Plasma Sources Sci. Technol. 26 065014 (2017)
  17. Smirnov B M Microphysics of Atmospheric Phenomena Springer Atmospheric Sciences Chapter 11 (2017) p. 235
  18. Gao X, Patwardhan G et al Phys. Rev. A 95 (1) (2017)
  19. Grigorian G M, Dyatko N A, Kochetov I V 24 (7) (2017)
  20. Demidov V I, Adams S F et al 23 (10) (2016)
  21. Carbone E A D, Schregel Ch-G, Czarnetzki U Plasma Sources Sci. Technol. 25 054004 (2016)
  22. Tsankov T V, Johnsen R, Czarnetzki U Plasma Sources Sci. Technol. 24 065001 (2015)
  23. Ashurbekov N A, Iminov K O et al High Temp 53 627 (2015)
  24. Lisovskiy V A, Artushenko K P, Yegorenkov V D Vacuum 122 75 (2015)
  25. Afanas’ev V P, Smirnov B M, Zhilyaev D A J. Exp. Theor. Phys. 119 138 (2014)
  26. Epstein I L, Gavrilović M et al Eur. Phys. J. D 68 (11) (2014)
  27. Dyatko N A, Ionikh Y Z et al J. Phys. D: Appl. Phys. 46 355202 (2013)
  28. Korolov I, Bánó G et al 134 (6) (2011)
  29. Godyak V A, Demidov V I J. Phys. D: Appl. Phys. 44 233001 (2011)
  30. Zvereva G N Opt. Spectrosc. 108 4 (2010)
  31. Dyatko N A, Ionikh Yu Z et al Plasma Phys. Rep. 36 1040 (2010)
  32. Zvereva G N Opt. Spectrosc. 109 468 (2010)
  33. Demidov V I, Adams S F et al Contrib. Plasma Phys. 50 808 (2010)
  34. Ionin A A, Kudryashov S I et al Optics Communications 282 45 (2009)
  35. DeJoseph C A, Demidov V I, Blessington J J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 41 085701 (2008)
  36. Dyatko N A, Ionikh Y Z et al J. Phys. D: Appl. Phys. 41 055204 (2008)
  37. Zvorykin V D, Ionin A A et al Jetp Lett. 88 8 (2008)
  38. DeJoseph C A, Demidov V I et al J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 40 3823 (2007)
  39. Zvereva G N, Lomaev M I et al Opt. Spectrosc. 102 30 (2007)
  40. DeJoseph C A, Demidov V I, Kudryavtsev A A 14 (5) (2007)
  41. Bogaerts A J. Anal. At. Spectrom. 22 502 (2007)
  42. Demidov V I, DeJoseph C A 77 (11) (2006)
  43. Dyatko N A, Latyshev F E et al Plasma Phys. Rep. 32 158 (2006)
  44. Blagoev A, Popov T et al J. Phys.: Conf. Ser. 44 80 (2006)
  45. Zvereva G N Opt. Spectrosc. 100 818 (2006)
  46. Demidov V, DeJoseph C, Kudryavtsev A IEEE Trans. Plasma Sci. 34 825 (2006)
  47. Vušković Leposava, Popović S Advances In Atomic, Molecular, and Optical Physics Vol. 51 (2005) p. 451
  48. Marković V L, Gocić S R et al 12 (7) (2005)
  49. Dyatko N A Plasma Phys. Rep. 31 871 (2005)
  50. Bultel A, Letellier Ch, Bourdon A Physics Letters A 323 267 (2004)
  51. Bogaerts A, Gijbels R 92 6408 (2002)
  52. Overzet L J, Kleber Je NATO Science Series: B Vol. Electron Kinetics and Applications of Glow DischargesTime Resolved Measurements of Pulsed Discharges: The Role of Metastable Atoms in the Afterglow367 Chapter 31 (2002) p. 511
  53. Gorbunov N A, Kopytov A N, Latyshev F E Tech. Phys. 47 940 (2002)
  54. Zvereva G N, Gerasimov G N Opt. Spectrosc. 90 321 (2001)
  55. Ashurbekov N A, Kurbanismailov V S et al High Temp 38 795 (2000)
  56. Bogaerts A, Gijbels R 86 4124 (1999)
  57. Overzet L J, Kleber Je Plasma Sources Sci. Technol. 7 512 (1998)
  58. Shuaibov A K, Dashchenko A I et al Tech. Phys. Lett. 23 765 (1997)
  59. Shuaibov A K, Shevera I V J Appl Spectrosc 64 258 (1997)
  60. Karov M, Rusinov I, Blagoev A J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 30 1361 (1997)
  61. Alexandrov V M, Flender U et al Plasma Sources Sci. Technol. 5 523 (1996)
© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение