Автоионная микроскопия радиационных дефектов в монокристаллах

СОДЕРЖАНИЕ
1. ВВЕДЕНИЕ
2. ДЕФЕКТЫ КРИСТАЛЛОВ И ИХ НАБЛЮДЕНИЕ С ПОМОЩЬЮ ИОННОГО ПРОЕКТОРА
3. ПРОХОЖДЕНИЕ ИЗЛУЧЕНИЯ ЧЕРЕЗ ВЕЩЕСТВО
4. ПОСТАНОВКА ЭКСПЕРИМЕНТА И ВЫБОР НЕКОТОРЫХ ПАРАМЕТРОВ
5. ВЛИЯНИЕ ПОБОЧНЫХ ФАКТОРОВ НА ХАРАКТЕР НАРУШЕНИЙ, НАБЛЮДАЕМЫХ В ОБЛУЧЕННЫХ ОБРАЗЦАХ
6. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ
7. ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЦИТИРОВАННАЯ ЛИТЕРАТУРА

Текст pdf (4,9 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1970v013n03ABEH004255

PACS: 61.80.Hg, 61.80.Jh, 61.80.Fe, 61.72.Ji, 61.72.Lk (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0101.197005b.0021
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1970/5/b/
Цитата: Суворов А Л "Автоионная микроскопия радиационных дефектов в монокристаллах" УФН 101 21–52 (1970)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)

MedlineRefWorks

Русский

English

PT Journal Article
TI Автоионная микроскопия радиационных дефектов в монокристаллах
AU Суворов А Л
FAU Суворов АЛ
DP 10 May, 1970
TA Усп. физ. наук
VI 101
IP 5
PG 21-52
RX 10.3367/UFNr.0101.197005b.0021
URL https://ufn.ru/ru/articles/1970/5/b/
SO Усп. физ. наук 1970 May 10;101(5):21-52

English citation: Suvorov A L “Field-ion microscopy of radiation defects in single crystals” Sov. Phys. Usp. 13 317–334 (1970); DOI: 10.1070/PU1970v013n03ABEH004255