Интенсивность рентгеновского пучка, отражённого от кристаллической грани, определяет собой абсолютную величину структурного фактора, но не даёт фазы последнего. Возможно, однако, установить достаточно узкие пределы для величины фазы или, если величина действительная, определить её знак, комбинируя данные по интенсивности для нескольких диффракциониых рефлексов. В последующих строках изложены общие принципы такого метода; более подробное изложение будет дано нами позднее. D. Harker and J. S. Kasper. Phases of Fourier Coefficients Directly from Crystal Diffraction Data. Journ. of Chem. Physics 15, 882–884 (1947).