Интенсивность рентгеновского пучка, отражённого от кристаллической грани, определяет собой абсолютную величину структурного фактора, но не даёт фазы последнего. Возможно, однако, установить достаточно узкие пределы для величины фазы или, если величина действительная, определить её знак, комбинируя данные по интенсивности для нескольких диффракциониых рефлексов. В последующих строках изложены общие принципы такого метода; более подробное изложение будет дано нами позднее. D. Harker and J. S. Kasper. Phases of Fourier Coefficients Directly from Crystal Diffraction Data. Journ. of Chem. Physics 15, 882–884 (1947).

PT Journal Article
TI Непосредственное определение фаз коэффициентов Фурье по рентгенометрическим данным
AU Харкер Д
FAU Харкер Д
AU Каспер И С
FAU Каспер ИС
DP 10 Jun, 1948
TA Усп. физ. наук
VI 35
IP 6
PG 271-275
RX 10.3367/UFNr.0035.194806g.0271
URL https://ufn.ru/ru/articles/1948/6/g/
SO Усп. физ. наук 1948 Jun 10;35(6):271-275