Изложены принципы нового метода структурной нейтронографии — резонансной нейтронной рефлектометрии, основанной на использовании резонансного усиления нейтронного волнового поля в квази-двумерных слоистых системах. Метод значительно повышает чувствительность при определении параметров структурных и магнитных потенциалов, положения магнитных слоев, пространственного распределения изотопов в многослойных наноструктурах и может служить эффективным дополнением к стандартной рефлектометрии.