Cтатьи, принятые к публикации

Приборы и методы исследований


Рентгеновская рефракционная интроскопия


Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" РАН, Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация

В обзоре описаны принципы работы и возможности рентгеновской рефракционной интроскопии, основанной на использовании кристаллического анализатора в качестве углового фильтра. Рассмотрены способы получения абсорбционного, рефракционного и экстинкционного контраста, различные алгоритмы для обработки изображений для осуществления двумерной и трехмерной визуализации. Приведены примеры использования метода в биомедицине и материаловедении.

Ключевые слова: рентгеновские лучи, рефракция, дифракция, малоугловое рассеяние, интроскопия, кристалл- анализатор, визуализация
PACS: 07.85.−m, 41.50.+h, 87.59.−e, 61.05.С, 78.20.Bh (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2023.02.039333
Цитата: Лидер В В "Рентгеновская рефракционная интроскопия" УФН, принята к публикации

Поступила: 10 января 2023, доработана: 13 февраля 2023, 27 февраля 2023

English citation: Lider V V “X-ray refraction introscopyPhys. Usp., accepted; DOI: 10.3367/UFNe.2023.02.039333

© Успехи физических наук, 1918–2023
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение