Статья посвящена истории создания, свойствам, разработке, применению и перспективам развития VLS-спектрометров мягкого рентгеновского (МР) диапазона (2—300 Å), т.е. спектрометров с отражательными дифракционными решетками, у которых шаг монотонно меняется на апертуре по заданному закону (так называемыми VLS-решетками: Varied Line-Space gratings). Важная особенность VLS-спектрометров скользящего падения состоит в том, что спектр формируется на почти плоской поверхности, перпендикулярной (либо слабо наклонной) по отношению к дифрагирующим пучкам, что делает их совместимыми с современными ПЗС-детекторами (backside-illuminated CCDs). VLS-спектрометры применяются для спектроскопии лабораторной и астрофизической плазмы, в том числе для диагностики релятивистской лазерной плазмы, для измерения ширины линии рентгеновского лазера, регистрации высоких гармоник лазерного излучения, излучения быстрых электрических разрядов и других лабораторных источников рентгеновского излучения. Приборы на основе VLS-решеток успешно применяются в рефлектометрии/метрологии, рентгеновском флуоресцентном анализе и микроскопии с использованием синхротронного излучения, излучения лазеров на свободных электронах и излучения лазерной плазмы, а также в эмиссионной спектроскопии, совмещенной с электронным микроскопом (SXES). В последние годы активно идет разработка специализированных VLS-спектрометров для исследования электронной структуры различных материалов и молекул методом спектроскопии резонансного неупругого рентгеновского рассеяния (RIXS) под действием синхротронного излучения. Тенденции последних лет — создание VLS-решеток с многослойным отражающим покрытием и расширение рабочего спектрального диапазона в сторону "нежных" рентгеновских лучей (tender X-rays, ℏω ∼ 1.5...6 кэВ), причем в некоторых проектах ставится цель достичь разрешающей способности λ/δλ ∼ 10⁵ в диапазоне ℏω ∼ 1 кэВ.