Cтатьи, принятые к публикации

Обзоры актуальных проблем


Прецизионное определение параметров кристаллической решетки


Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация

Описываются и сравниваются прецизионные рентгеновские методы абсолютного и относительного определения параметров кристаллической решетки (межплоскостных расстояний), в том числе метод косселевских проекций (метод дифракции широко расходящегося пучка), метод Бонда, метод Реннингера, метод обратного отражения, интерференционный метод, метод стандартов (эталонов). Показано, что для большинства рассмотренных методов достижима относительная точность определения параметров решетки ~ 10−5 — 10−6, причем последние два метода дают гораздо большую точность ~ 10−8 — 10−9.

Ключевые слова: рентгеновское излучение, дифракция, угол Брэгга, параметр кристаллической решетки, межплоскостное расстояние
PACS: 06.20.Jr, 07.85.−m, 61.50.−f, 61.10.Nz (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2019.07.038599
Цитата: Лидер В В "Прецизионное определение параметров кристаллической решетки" УФН, принята к публикации

Поступила: 14 мая 2019, доработана: 1 июля 2019, 2 июля 2019

English citation: Lider V V “Precision crystal lattice parameters determinationPhys. Usp., accepted; DOI: 10.3367/UFNe.2019.07.038599

© Успехи физических наук, 1918–2019
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение