Cтатьи, принятые к публикации

Приборы и методы исследований


Многослойные рентгеновские интерференционные структуры


Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация

Работа посвящена принципам, современному состоянию и проблемам многослойной рентгеновской оптики. Обсуждаются методы оптимизации планарных многослойных интерференционных структур и многослойных дифракционных решеток, их применение в науке и технике.

Ключевые слова: многослойные системы, дифракционные решетки, рентгеновское излучение, рентгеновская оптика, дифракция, интерференция, спектральное разрешение
PACS: 07.85.−m, 41.50.+h, 42.79.Dj, 42.88.+h, 61.05.cp, 78.20.Bh, 78.67.Pt, 95.55.Ka (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2018.10.038439
Цитата: Лидер В В "Многослойные рентгеновские интерференционные структуры" УФН, принята к публикации

Поступила: 12 июля 2018, доработана: 24 сентября 2018, 4 октября 2018

English citation: Lider V V “Multilayer x-ray interference structuresPhys. Usp., accepted; DOI: 10.3367/UFNe.2018.10.038439

© Успехи физических наук, 1918–2018
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение