Cтатьи, принятые к публикации

Обзоры актуальных проблем


Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения


Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, химический факультет, Ленинские горы д. 1 стр. 3, Москва, 119991, Российская Федерация

В обзоре описано развитие рентгеновской дифрактометрии для структурных исследований, как с использованием традиционных непрерывно излучающих генераторов рентгеновских лучей, так и новейших источников ультракоротких и ультра-ярких рентгеновских импульсов, позволяющих исследовать структурную динамику конденсированного вещества в 4D пространственно-временном континууме с разрешением вплоть до десятых долей фемтосекунды. Прежде всего, обсуждаются новые технические средства, повышающие чувствительность, точность и оперативность рентгеновских дифракционных экспериментов: новые и перспективные источники рентгеновских лучей, отражательная коллимирующая и фокусирующая рентгеновская оптика, быстрые малошумящие и радиационно-стойкие координатные рентгеновские детекторы, а также рентгеновские дифрактометры нового поколения, построенные на основе этих элементов. Наибольшее внимание уделяется современным техническим средствам, обеспечивающим проведение в университетских и производственных лабораториях рентгеновских дифракционных исследований материалов, которые ранее считались возможными только на синхротронном излучении в международных центрах коллективного пользования.

Ключевые слова: рентгеновские дифракционные методы, рентгеноструктурный анализ, рентгеновские дифрактометры, рентгеновская дифрактометрия, импульсные источники рентгеновских лучей, лазерно-плазменные источники рентгеновских лучей, лазерно-плазменные ускорители электронов, микрофокусные источники рентгеновских лучей, альтернативные источники рентгеновских лучей, рентгеновские лазеры на свободных электронах (XFEL), отражательная рентгеновская оптики, многослойные тонкопленочные рентгеновские отражатели, монокапиллярные рентгеновские коллиматоры, поликапиллярная рентгеновская оптика, полупроводниковые позиционно-чувствительные рентгеновские детекторы, микростриповые кремниевые детекторы, двумерные гибридные пиксельные детекторы, рентгеновские p-i-n-диоды, структурная динамика конденсированного вещества в 4D пространственно-временном континууме
DOI: 10.3367/UFNr.2018.10.038435
Цитата: Фетисов Г В "Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения" УФН, принята к публикации

Поступила: 10 августа 2018, доработана: 15 сентября 2018, 4 октября 2018

English citation: Fetisov G V “X-ray diffraction methods for structural diagnostics of materials: progress and achievementsPhys. Usp., accepted; DOI: 10.3367/UFNe.2018.10.038435

Похожие статьи (9) ↓

  1. Б.А. Волков, Л.И. Рябова, Д.Р. Хохлов «Примеси с переменной валентностью в твердых растворах на основе теллурида свинца» 172 875–906 (2002)
  2. В.Л. Инденбом, Ф.Н. Чуховский «Проблема изображения в рентгеновской оптике» 107 229–265 (1972)
  3. М.В. Ковальчук, В.Г. Кон «Рентгеновские стоячие волны — новый метод исследования структуры кристаллов» 149 69–103 (1986)
  4. Е.Г. Максимов, Ю.И. Шилов «Водород при высоких давлениях» 169 1223–1242 (1999)
  5. В.В. Аристов, Л.Г. Шабельников «Современные достижения рентгеновской оптики преломления» 178 61–83 (2008)
  6. А.Л. Ивановский «Новые высокотемпературные сверхпроводники на основе оксиарсенидов редкоземельных и переходных металлов и родственных фаз: синтез, свойства и моделирование» 178 1273–1306 (2008)
  7. Э.В. Суворов, И.А. Смирнова «Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (рентгеновской микроскопии)» 185 897–915 (2015)
  8. Ф.Ф. Комаров «Нано- и микроструктурирование твёрдых тел быстрыми тяжёлыми ионами» 187 465–504 (2017)
  9. С.А. Асеев, А.С. Ахманов и др. «Структурная динамика свободных молекул и конденсированного вещества», принята к публикации

Список формируется автоматически.

© Успехи физических наук, 1918–2019
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение