Cтатьи, принятые к публикации

Обзоры актуальных проблем


Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения


Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова, химический факультет, Ленинские горы д. 1 стр. 3, Москва, 119991, Российская Федерация

В обзоре описано развитие рентгеновской дифрактометрии для структурных исследований, как с использованием традиционных непрерывно излучающих генераторов рентгеновских лучей, так и новейших источников ультракоротких и ультра-ярких рентгеновских импульсов, позволяющих исследовать структурную динамику конденсированного вещества в 4D пространственно-временном континууме с разрешением вплоть до десятых долей фемтосекунды. Прежде всего, обсуждаются новые технические средства, повышающие чувствительность, точность и оперативность рентгеновских дифракционных экспериментов: новые и перспективные источники рентгеновских лучей, отражательная коллимирующая и фокусирующая рентгеновская оптика, быстрые малошумящие и радиационно-стойкие координатные рентгеновские детекторы, а также рентгеновские дифрактометры нового поколения, построенные на основе этих элементов. Наибольшее внимание уделяется современным техническим средствам, обеспечивающим проведение в университетских и производственных лабораториях рентгеновских дифракционных исследований материалов, которые ранее считались возможными только на синхротронном излучении в международных центрах коллективного пользования.

Ключевые слова: рентгеновские дифракционные методы, рентгеноструктурный анализ, рентгеновские дифрактометры, рентгеновская дифрактометрия, импульсные источники рентгеновских лучей, лазерно-плазменные источники рентгеновских лучей, лазерно-плазменные ускорители электронов, микрофокусные источники рентгеновских лучей, альтернативные источники рентгеновских лучей, рентгеновские лазеры на свободных электронах (XFEL), отражательная рентгеновская оптики, многослойные тонкопленочные рентгеновские отражатели, монокапиллярные рентгеновские коллиматоры, поликапиллярная рентгеновская оптика, полупроводниковые позиционно-чувствительные рентгеновские детекторы, микростриповые кремниевые детекторы, двумерные гибридные пиксельные детекторы, рентгеновские p-i-n-диоды, структурная динамика конденсированного вещества в 4D пространственно-временном континууме
DOI: 10.3367/UFNr.2018.10.038435
Цитата: Фетисов Г В "Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения" УФН, принята к публикации

Поступила: 10 августа 2018, доработана: 15 сентября 2018, 4 октября 2018

English citation: Fetisov G V “X-ray diffraction methods for structural diagnostics of materials: progress and achievementsPhys. Usp., accepted; DOI: 10.3367/UFNe.2018.10.038435

© Успехи физических наук, 1918–2018
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение