Cтатьи, принятые к публикации

Приборы и методы исследований


Метод времяразрешающего рентгенодифракционного картирования обратного пространства в условиях воздействия электрического поля на кристалл

 а, б,  а, б,  а, б,  а, б,  а, б,  а, б
а Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация
б Национальный исследовательский центр «Курчатовский институт», пл. акад. Курчатова 1, Москва, 123182, Российская Федерация

Разработана и впервые реализована рентгеновская методика картирования обратного пространства в трехосевой геометрии дифракции с временным разрешением на лабораторном источнике излучения. Методика позволяет изучать протекающие в образце под влиянием внешних воздействий процессы, вызывающие обратимые деформации его кристаллической решетки, разграничивать эти процессы во времени, а также разделять разные виды деформаций, возникающих в кристалле в результате этих воздействий. Суть методики заключается в измерении временных зависимостей интенсивности для каждой точки обратного пространства в окрестности дифракционного максимума в трехосевой геометрии дифракции при повторяющемся и идентичном по своей структуре воздействии на образец электрическим полем высокой напряженности, с последующим построением эволюции во времени двумерной карты обратного пространства. Временное разрешение достигается благодаря быстродействующему многоканальному анализатору интенсивности, синхронизованному с высоковольтным источником напряжения. В работе продемонстрированы результаты измерения дифракционных карт обратного пространства на лабораторном источнике излучения для пьезоэлектрического кристалла лантан-галлиевого силиката, находящегося под воздействием внешнего электрического поля напряженностью 3,08 кВ/мм, близкой к пробойной, с временным разрешением до 10 мс.

Ключевые слова: времяразрешающая методика, карта обратного пространства, трехкристальная рентгеновская дифрактометрия, внешнее электрическое поле, пьезоэффект, лангасит
PACS: 06.60.Jn
DOI: 10.3367/UFNr.2018.06.038348
Цитата: Марченков Н В, Куликов А Г, Аткнин И И, Петренко А А, Благов А Е, Ковальчук М В "Метод времяразрешающего рентгенодифракционного картирования обратного пространства в условиях воздействия электрического поля на кристалл" УФН, принята к публикации

Поступила: 15 января 2018, доработана: 6 мая 2018, 6 июня 2018

English citation: Marchenkov N V, Kulikov A G, Atknin I I, Petrenko A A, Blagov A E, Kovalchuk M V “Time-resolved x-ray reciprocal space mapping of the crystal under external electric fieldPhys. Usp., accepted; DOI: 10.3367/UFNe.2018.06.038348

© Успехи физических наук, 1918–2018
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение