Выпуски

 / 

2020

 / 

Сентябрь

  

Обзоры актуальных проблем


Прецизионное определение параметров кристаллической решётки


Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" РАН, Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация

Описываются и сравниваются прецизионные рентгеновские методы абсолютного и относительного определения параметров кристаллической решётки (межплоскостных расстояний), в том числе метод косселевских проекций (метод дифракции широко расходящегося пучка), метод Бонда, метод Реннингера, метод обратного отражения, интерференционный метод, метод стандартов (эталонов). Показано, что для большинства рассмотренных методов достижима относительная точность определения параметров решётки $\sim 10 ^{-5}-10^{-6}$, причём последние два метода дают гораздо бóльшую точность, $\sim 10 ^{-8}-10^{-9}$.

Текст pdf (1,1 Мб)
English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.2019.07.038599
Ключевые слова: рентгеновское излучение, дифракция, угол Брэгга, параметр кристаллической решётки, межплоскостное расстояние
PACS: 06.20.Jr, 07.85.−m, 61.05.cp, 61.50.−f (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2019.07.038599
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2020/9/d/
000597245700004
2-s2.0-85098656998
2020PhyU...63..907L
Цитата: Лидер В В "Прецизионное определение параметров кристаллической решётки" УФН 190 971–994 (2020)
BibTexBibNote ® (generic) BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
Русский English
TY JOUR
TI Precise determination of crystal lattice parameters
AU Lider, V. V.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 2020
JO Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JA Usp. Fiz. Nauk
VL 190
IS 9
SP 971-994
UR https://ufn.ru/ru/articles/2020/9/d/
ER https://doi.org/10.3367/UFNr.2019.07.038599

Поступила: 14 мая 2019, доработана: 1 июля 2019, 2 июля 2019

English citation: Lider V V “Precise determination of crystal lattice parametersPhys. Usp. 63 907–928 (2020); DOI: 10.3367/UFNe.2019.07.038599

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение