Сильно коррелированные электронные системы и квантовые критические явления

П.И. Арсеев^а, С.В. Демишев^б, В.Н. Рыжов^в, С.М. Стишов^в
^аФизический институт им. П.Н. Лебедева РАН, Ленинский проспект 53, Москва, 119991, Российская Федерация
^бИнститут общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук, ул. Вавилова 38, Москва, 119991, Российская Федерация
^вИнститут физики высоких давлений Российской академии наук им. Л.Ф. Верещагина, Калужское шоссе 14, Троицк, Москва, 108840, Российская Федерация

При поддержке Президиума РАН 11 июня 2004 г. в Институте физики высоких давлений РАН был проведен второй семинар «Сильно коррелированные электронные системы и квантовые критические явления». Работа семинара была организована по трем секциям: «Сильно коррелированные электроны и сверхпроводимость», «Квантовые критические явления и магнитные свойства» и «Сильно коррелированные системы различной природы». Кроме того, была организована постерная секция.

Текст pdf (260 Кб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU2005v048n10ABEH002834

PACS: 71.10.−w, 71.10.Hf, 71.27.+a, 71.30.+h (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0175.200510m.1125
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2005/10/m/
Web of Science

000235238900008
ADS NASA

2005PhyU...48.1071A
Цитата: Арсеев П И, Демишев С В, Рыжов В Н, Стишов С М "Сильно коррелированные электронные системы и квантовые критические явления" УФН 175 1125–1139 (2005)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 Сильно коррелированные электронные системы и квантовые критические явления
A1 Арсеев,П.И.
A1 Демишев,С.В.
A1 Рыжов,В.Н.
A1 Стишов,С.М.
PB Успехи физических наук
PY 2005
FD 10 Oct, 2005
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 175
IS 10
SP 1125-1139
DO 10.3367/UFNr.0175.200510m.1125
LK https://ufn.ru/ru/articles/2005/10/m/

English citation: Arseev P I, Demishev S V, Ryzhov V N, Stishov S M “Strongly correlated electron systems and quantum critical phenomena” Phys. Usp. 48 1071–1084 (2005); DOI: 10.1070/PU2005v048n10ABEH002834