Сильно коррелированные электронные системы и квантовые критические явления

П.И. Арсеев^а, С.В. Демишев^б, В.Н. Рыжов^в, С.М. Стишов^в
^аФизический институт им. П.Н. Лебедева РАН, Ленинский проспект 53, Москва, 119991, Российская Федерация
^бИнститут общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук, ул. Вавилова 38, Москва, 119991, Российская Федерация
^вИнститут физики высоких давлений Российской академии наук им. Л.Ф. Верещагина, Калужское шоссе 14, Троицк, Москва, 108840, Российская Федерация

При поддержке Президиума РАН 11 июня 2004 г. в Институте физики высоких давлений РАН был проведен второй семинар «Сильно коррелированные электронные системы и квантовые критические явления». Работа семинара была организована по трем секциям: «Сильно коррелированные электроны и сверхпроводимость», «Квантовые критические явления и магнитные свойства» и «Сильно коррелированные системы различной природы». Кроме того, была организована постерная секция.

Текст pdf (260 Кб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU2005v048n10ABEH002834

PACS: 71.10.−w, 71.10.Hf, 71.27.+a, 71.30.+h (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0175.200510m.1125
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2005/10/m/
Web of Science

000235238900008
ADS NASA

2005PhyU...48.1071A
Цитата: Арсеев П И, Демишев С В, Рыжов В Н, Стишов С М "Сильно коррелированные электронные системы и квантовые критические явления" УФН 175 1125–1139 (2005)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)

MedlineRefWorks

Русский

English

PT Journal Article
TI Сильно коррелированные электронные системы и квантовые критические явления
AU Арсеев П И
FAU Арсеев ПИ
AU Демишев С В
FAU Демишев СВ
AU Рыжов В Н
FAU Рыжов ВН
AU Стишов С М
FAU Стишов СМ
DP 10 Oct, 2005
TA Усп. физ. наук
VI 175
IP 10
PG 1125-1139
RX 10.3367/UFNr.0175.200510m.1125
URL https://ufn.ru/ru/articles/2005/10/m/
SO Усп. физ. наук 2005 Oct 10;175(10):1125-1139

English citation: Arseev P I, Demishev S V, Ryzhov V N, Stishov S M “Strongly correlated electron systems and quantum critical phenomena” Phys. Usp. 48 1071–1084 (2005); DOI: 10.1070/PU2005v048n10ABEH002834