Выпуски

 / 

2005

 / 

Октябрь

  

Конференции и симпозиумы


Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия атомно-чистой поверхности висмута

11 мая 2005 г. в конференц-зале Института физических проблем им. П.Л. Капицы РАН состоялась Научная сессия Отделения физических наук Российской академии наук, посвященная 100-летию со дня рождения академика А.И. Шальникова. На сессии были заслушаны доклады:

  1. Кешишев К.О. (Институт физических проблем им. П.Л. Капицы РАН, Москва). Александр Иосифович Шальников и физика квантовых кристаллов.
  2. Эдельман B.C. (Институт физических проблем им. П.Л. Капицы РАН, Москва). Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия атомно-чистой поверхности висмута.
  3. Межов-Деглин Л.П. (Институт физики твердого тела РАН, Черноголовка, Московская обл.). Примесные нанокластерные структуры в жидком гелии.
Краткое содержание докладов 2 и 3 публикуется ниже.

Текст pdf (486 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU2005v048n10ABEH005797
PACS: 65.35.-p, 68.37.−d, 68.37.Ef (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0175.200510k.1111
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2005/10/k/
000235238900006
2005PhyU...48.1057E
Цитата: Эдельман В С "Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия атомно-чистой поверхности висмута" УФН 175 1111–1115 (2005)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Edel’man V S “Scanning tunnel microscopy and spectroscopy of an atomically clean bismuth surfacePhys. Usp. 48 1057–1061 (2005); DOI: 10.1070/PU2005v048n10ABEH005797

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение