Выпуски

 / 

2000

 / 

Сентябрь

  

Конференции и симпозиумы


Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия


Институт физических проблем им. П.Л. Капицы РАН, ул. Косыгина 2, Москва, 117334, Российская Федерация

Сессия РАН 10.05.2000

Текст pdf (442 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU2000v043n09ABEH000807
PACS: 07.20.Mc, 07.79.−v, 07.79.Cz, 68.35.Bs (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0170.200009e.0995
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2000/9/e/
000165206800005
Цитата: Эдельман В С "Низкотемпературная сканирующая тунельная микроскопия" УФН 170 995–996 (2000)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline RefWorks
Русский English
RT Journal
T1 Low-temperature scanning tunneling microscopy
A1 Edel’man,V.S.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 2000
FD 10 Sep, 2000
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JO Usp. Fiz. Nauk
VO 170
IS 9
SP 995-996
DO 10.3367/UFNr.0170.200009e.0995
LK https://ufn.ru/ru/articles/2000/9/e/

English citation: Edel’man V S “Low-temperature scanning tunneling microscopyPhys. Usp. 43 925–926 (2000); DOI: 10.1070/PU2000v043n09ABEH000807

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение