Выпуски

 / 

2000

 / 

Август

  

Обзоры актуальных проблем


Критические точки конденсации в кулоновских системах


Институт теоретической и прикладной электродинамики РАН, Москва, Российская Федерация

Критические точки конденсации в кулоновских системах описываются модифицированным уравнением Ван-дер-Ваальса, учитывающим многочастичное обменное взаимодействие виртуальных атомов с перекрывающимися классически доступными сферами валентных электронов. Характерной особенностью кулоновских критических точек является сильная электрон-ионная связь, обусловленная близостью перехода металл—изолятор. Рассмотрены ячеечная модель обменного взаимодействия виртуальных атомов и примеры кулоновских критических точек в системе заряженных твердых сфер, в щелочных металлах, в металл-аммиачных растворах и в системе экситонов. Определены параметры кулоновских критических точек переходных металлов. Обсуждаются примеры переходов изолятор—металл в полупроводящих и диэлектрических жидкостях, образующих кулоновскую систему уже в жидкой фазе, и полупроводящее критическое состояние ртути.

Текст pdf (476 Кб)
English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU2000v043n08ABEH000792
PACS: 64.70.Fx, 71.30.+h, 71.35.Ee (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0170.200008b.0831
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2000/8/b/
000165240800002
Цитата: Ликальтер А А "Критические точки конденсации в кулоновских системах" УФН 170 831–854 (2000)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
Русский English
@article{Likal'ter:2000,
	author = {А. А. Ликальтер},
	title = {Критические точки конденсации в кулоновских системах},
	publisher = {Успехи физических наук},
	year = {2000},
	journal = {Усп. физ. наук},
	volume = {170},
	number = {8},
	pages = {831-854},
	url = {https://ufn.ru/ru/articles/2000/8/b/},
	doi = {10.3367/UFNr.0170.200008b.0831}
}

English citation: Likal’ter A A “Critical points of condensation in Coulomb systemsPhys. Usp. 43 777–797 (2000); DOI: 10.1070/PU2000v043n08ABEH000792

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение