Выпуски

 / 

1999

 / 

Октябрь

  

Обзоры актуальных проблем


Электронная импульсная спектроскопия атомов, молекул и тонких пленок

, ,
Научно-исследовательский институт ядерной физики им. Д.В. Скобельцына Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова, Воробьевы горы, Москва, 119899, Российская Федерация

Представлен обзор теории электронной импульсной спектроскопии (ЭИС), основанной на однократной (многократной) ионизации квантовой мишени (атома, молекулы, тонкой пленки) прямым электронным ударом. Приведены многочисленные примеры преимуществ ЭИС при расшифровке импульсных распределений конечных электронов по сравнению с другими методами прямого исследования структуры многочастичной волновой функции мишени. В частности, показано, что ЭИС позволяет осуществить значительный прогресс в квантовой химии молекул, приблизиться к пониманию процессов перестройки их наружных электронных орбиталей при адиабатическом сближении, детально исследовать зонную структуру и вид одноэлектронных волновых функций не только кристаллических, но и аморфных тонких пленок. Исследована возможность прямого «портретирования» электронных корреляций в атомах методом двухкратной ионизации.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
PACS: 34.80.Dp, 34.90.+q, 39.90.+d, 78.66.−w (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0169.199910c.1111
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1999/10/c/
Цитата: Неудачин В Г, Попов Ю В, Смирнов Ю Ф "Электронная импульсная спектроскопия атомов, молекул и тонких пленок" УФН 169 1111–1139 (1999)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Neudachin V G, Popov Yu V, Smirnov Yu F “Electron momentum spectroscopy of atoms, molecules, and thin filmsPhys. Usp. 42 1017–1044 (1999); DOI: 10.1070/PU1999v042n10ABEH000492

© Успехи физических наук, 1918–2019
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение