Выпуски

 / 

1997

 / 

Май

  

Обзоры актуальных проблем


Сильно коррелированные электроны: t-J-модель


Институт физики металлов, Уральское отделение РАН, Екатеринбург, Российская Федерация

Последовательно изложено современное состояние исследований t-J-модели, являющейся рабочей моделью для высокотемпературных сверхпроводников медно-оксидной группы. Основное внимание уделяется области вблизи половинного заполнения зоны (малых концентраций дырок), актуальной для этих материалов. В единой схеме излагается теория магнитного полярона — носителя заряда, движущегося в антиферромагнитной матрице, и теория антиферромагнитного состояния системы. Исследуется также состояние спиновой жидкости, возникающее за пределами антиферромагнитной фазы. Описывается фазовая диаграмма модели на плоскости «параметры гамильтониана-концентрация дырок» и сравнивается с фазовой диаграммой для модели Хаббарда в пределе сильных корреляций. Рассматриваются некоторые расширения t-J-модели, а именно, t-t’-J-модель и модель, учитывающая трехцентровые взаимодействия. В обзоре, главным образом, используются аналитические методы исследования проблемы сильно коррелированных электронных систем.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
PACS: 71.27.+a, 74.90.+n, 75.10.Lp (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0167.199705a.0465
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1997/5/a/
Цитата: Изюмов Ю А "Сильно коррелированные электроны: t-J-модель" УФН 167 465–497 (1997)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline RefWorks
Русский English
RT Journal
T1 Сильно коррелированные электроны: tJ-модель
A1 Изюмов,Ю.А.
PB Успехи физических наук
PY 1997
FD 10 May, 1997
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 167
IS 5
SP 465-497
DO 10.3367/UFNr.0167.199705a.0465
LK https://ufn.ru/ru/articles/1997/5/a/

English citation: Izyumov Yu A “Strongly correlated electrons: the t-J modelPhys. Usp. 40 445–476 (1997); DOI: 10.1070/PU1997v040n05ABEH000234

© Успехи физических наук, 1918–2019
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение