Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками

A1996UB80800009
Цитата: Бухараев А А "Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками" УФН 166 210–213 (1996)

BibTexBibNote ® (generic)

BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Русский

English

TY JOUR
TI Scanning tunnelling and atomic force microscopy of surfaces modified by ion and laser beams

AU Bukharaev, A. A.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 1996
JO Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JA Usp. Fiz. Nauk
VL 166
IS 2
SP 210-213
UR https://ufn.ru/ru/articles/1996/2/i/
ER https://doi.org/10.3367/UFNr.0166.199602i.0210

English citation: Bukharaev A A “Scanning tunnelling and atomic force microscopy of surfaces modified by ion and laser beams” Phys. Usp. 39 193–196 (1996); DOI: 10.1070/PU1996v039n02ABEH001499