Выпуски

 / 

1988

 / 

Май

  

Совещания и конференции


Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия поверхности


Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, Физический факультет, Ленинские горы 1 стр. 2, Москва, 119991, Российская Федерация

Научная сессия Отделения общей физики и астрономии и Отделения ядерной физики Академии наук СССР (21 — 22 октября 1987 г.).

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
PACS: 68.37.Ef, 66.30.Fq, 68.35.Bs, 68.47.De, 73.20.At (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0155.198805h.0155
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1988/5/h/
Цитата: Панов В И "Сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия поверхности" УФН 155 155–158 (1988)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Panov V I “Scanning tunneling microscopy and surface spectroscopySov. Phys. Usp. 31 471–473 (1988); DOI: 10.1070/PU1988v031n05ABEH003551

Список литературы (10) ↓ Статьи, ссылающиеся на эту (1) Похожие статьи (20)

  1. Binnig G et al. Phys. Rev. Lett. 49 57 (1983); Binnig G et al. Phys. Rev. Lett. 50 120 (1983); Binnig G et al. Appl. Phys. Lett. 40 178 (1982)
  2. Hansma P, Tersoff J J. Appl. Phys. 61 R1 (1987)
  3. Proceedings of the First Conference of STM, STM '86 (1987); Surf. Sci. (1-2) (1987)
  4. Proceedings of the Second Conference of STM. STM '87, Oxnard, California, July 20-24, 1987
  5. Васильев С И, Леонов В Б, Панов В И Письма в ЖЭТФ 13 937 (1987)
  6. Васильев С И, Леонов В Б, Панов В И, Савинов С В ДАНН СССР 297 1351 (1987)
  7. Chen C K, de Castro A R B, Shen Y R Phys. Rev. Lett. 46 145 (1981)
  8. Акципетров О А и др. Письма в ЖЭТФ 44 371 (1986); Aktsipetrov O A et al. JETP Lett. 44 475 (1986)
  9. Binnig G, Quate C F, Gerber Ch Phys. Rev. Lett. 56 930 (1986)
  10. Васильев С И, Леонов В Б, Моисеев Ю Н, Панов В И "Атомная силовая микроскопия поверхности диэлектриков" Препринт №2/1988 (М.: Физический факультет МГУ, 1988) с. 5

© Успехи физических наук, 1918–2022
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение