Исследования свойств излучения при каналировании релятивистских электронов и позитронов, выполненные за последние восемь лет, показали, что можно изучать ряд свойств монокристаллов по особенностям спектра излучения, положению и ширине спектральных линий. Наибольшие успехи в этом направлении достигнуты в нахождении дебаевской температуры кристаллов, уточнении кристаллического потенциала, определении плотности электронов вблизи кристаллических цепочек и плоскостей. Вследствие локализации релятивистских электронов или позитронов вблизи определенных атомных плоскостей или цепочек спектр излучения каналированных частиц, в отличие от дифракционных методов, несет «прямую» информацию о кристаллическом потенциале. Метод позволяет исследовать корреляцию тепловых колебаний атомов в решетке, а также некоторые особенности сверхструктур и сложных кристаллов. Табл. 1. Ил. 10. Библиогр. ссылок 44

@article{Ognev:1988,
	author = {Л. И. Огнев},
	title = {Спектроскопия излучения каналированных частиц - новый метод исследования кристаллов},
	publisher = {Успехи физических наук},
	year = {1988},
	journal = {Усп. физ. наук},
	volume = {154},
	number = {4},
	pages = {691-702},
	url = {https://ufn.ru/ru/articles/1988/4/f/},
	doi = {10.3367/UFNr.0154.198804f.0691}
}