Исследования свойств излучения при каналировании релятивистских электронов и позитронов, выполненные за последние восемь лет, показали, что можно изучать ряд свойств монокристаллов по особенностям спектра излучения, положению и ширине спектральных линий. Наибольшие успехи в этом направлении достигнуты в нахождении дебаевской температуры кристаллов, уточнении кристаллического потенциала, определении плотности электронов вблизи кристаллических цепочек и плоскостей. Вследствие локализации релятивистских электронов или позитронов вблизи определенных атомных плоскостей или цепочек спектр излучения каналированных частиц, в отличие от дифракционных методов, несет «прямую» информацию о кристаллическом потенциале. Метод позволяет исследовать корреляцию тепловых колебаний атомов в решетке, а также некоторые особенности сверхструктур и сложных кристаллов. Табл. 1. Ил. 10. Библиогр. ссылок 44

TY JOUR
TI Спектроскопия излучения каналированных частиц - новый метод исследования кристаллов
AU Огнев, Л. И.
PB Успехи физических наук
PY 1988
JO Успехи физических наук
JF Успехи физических наук
JA Усп. физ. наук
VL 154
IS 4
SP 691-702
UR https://ufn.ru/ru/articles/1988/4/f/
ER https://doi.org/10.3367/UFNr.0154.198804f.0691