Рентгеновское излучение, применяемое в кристаллографии и медицинской рентгенографии, является «жестким» или коротковолновым. Изучается возможность использования «мягкого», или длинноволнового, рентгеновского излучения в микроскопии, астрономии и микроэлектронике.

S p i l l e r Eberhard, F e d е г Ralph. The Optics of Long-wavelength X Rays.— Scientific American, November 1978, v. 239, p. 60—68.— Перевод А. П. Силина.
Э. Шпиллер и Р. Федер — физики в составе руководства Исследовательского центра имени Т. Дж. Уотсона корпорации I.B.M.