Содержание: Введение. Основные свойства синхротронного излучения. Качественные характеристики синхротронного излучения одиночного электрона. Количественные сведения о свойствах синхротронного излучения. Влияние параметров электронных пучков на характеристики потоков синхротронного излучения. Возможности накопителей электронов — основных источников синхротронного излучения. Сравнение существующих накопителей электронов с другими источниками ультрафиолетового и рентгеновского излучения. Пути дальнейшего улучшения накопителей — специализированных источников синхротронного излучения. Особенности проведения экспериментов с синхротронным излучением на накопителях. Стыковка экспериментального оборудования с вакуумной системой накопителя. Радиационные условия. Использование экспериментальной аппаратуры, адекватной источнику излучения. Использование синхротронного излучения для рентгеновской микроскопии. Контактная микроскопия. Рентгеновская топография. Проекционная микроскопия. Сканирующая микроскопия. Топографическая микроскопия. Применение синхротронного излучения для рентгеноструктурного анализа. Исследование взаимодействия излучения с атомами, молекулами и конденсированными телами. Использование синхротронного излучения для определения элементного состава объектов. Ядерная спектроскопия и близкие вопросы. Перспективы прикладного использования синхротронного излучения. Метрология. Медицинские приложения. Рентгеновская литография. Молекулярная микрохирургия. Радиационная технология. Заключение. Приложение. Цитированная литература.

RT Journal
T1 Использование синхротронного излучения: состояние и перспективы
A1 Кулипанов,Г.Н.
A1 Скринский,А.Н.
PB Успехи физических наук
PY 1977
FD 10 Jul, 1977
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 122
IS 7
SP 369-418
DO 10.3367/UFNr.0122.197707a.0369
LK https://ufn.ru/ru/articles/1977/7/a/